[发明专利]一种电离层参数的反演方法在审

专利信息
申请号: 201910389138.8 申请日: 2019-05-10
公开(公告)号: CN110245316A 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 孙秀志;王健;韩峰;贾文科;韩阳;姬生云;杨杰;杨铖;付炜;苏海斌 申请(专利权)人: 中国人民解放军31007部队;中国电子科技集团公司第二十二研究所;青岛农业大学
主分类号: G06F17/10 分类号: G06F17/10
代理公司: 北京丰浩知识产权代理事务所(普通合伙) 11781 代理人: 李学康
地址: 100079 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种电离层参数的反演方法,它包括如下步骤,步骤A:读取电离层斜向探测链路获得的链路两个端点的经纬度、探测时间以及基本最高可用频率和时延等信息;步骤B:反演F2层3000公里传输因子M;步骤C:反演F2层临界频率f。其有益效果在于:本发明可操作性强,数据选取容易,预报结果的准确度更高,可为短波通信选频提供更可靠的数据支撑。
搜索关键词: 反演 电离层参数 链路 短波通信 探测 读取 经纬度 电离层 传输因子 可用频率 临界频率 数据选取 数据支撑 预报结果 准确度 时延 斜向 选频
【主权项】:
1.一种电离层参数的反演方法,其特征在于:它包括如下步骤,步骤A:读取电离层斜向探测链路获得的链路两个端点的经纬度、探测时间以及基本最高可用频率和时延等信息;步骤B:反演F2层3000公里传输因子M;步骤C:反演F2层临界频率f。
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