[发明专利]基于空间热成像技术的高通量电卡测试系统有效
| 申请号： | 201910389148.1 | 申请日： | 2019-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN110108770B | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 白洋;李俊杰;秦士强;李建厅;苏小坡;殷若伟 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01N27/30 | 分类号： | G01N27/30;G01N27/26;G01N25/20 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提出了一种基于空间热成像技术的高通量电卡测试系统，包括：用于承载高通量电卡样品的样品恒温台、温度控制器、红外热像仪、高压放大器、波形发生器；其中所述样品恒温台的表面设有导热绝缘板，所述高通量电卡样品放置在所述样品恒温台表面的导热绝缘板上；且所述样品恒温台上设有遮光暗箱，所述遮光暗箱设置于所述样品恒温台的上表面上以与所述样品恒温台的上表面形成密闭的测试空间，所述红外热像仪和所述高通量电卡样品都设置于所述测试空间内。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 空间 成像 技术 通量 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于空间热成像技术的高通量电卡测试系统，其特征在于，包括：用于承载高通量电卡样品的样品恒温台、温度控制器、红外热像仪、高压放大器、波形发生器；其中所述样品恒温台的表面设有导热绝缘板，所述高通量电卡样品放置在所述样品恒温台表面的导热绝缘板上；且所述样品恒温台上设有遮光暗箱，所述遮光暗箱设置于所述样品恒温台的上表面上以与所述样品恒温台的上表面形成密闭的测试空间，所述红外热像仪和所述高通量电卡样品都设置于所述测试空间内；所述高通量电卡样品的表面形成有导电电极，所述导电电极通过导线连接高压放大器，且高压放大器连接波形发生器，以使所述波形发生器和高压放大器将预设波形的电压传输到高通量电卡样品；其中所述波形发生器和高压放大器都连接所述主控制器；其中所述温度控制器连接主控制器以控制所述测试空间内的温度；其中所述高通量电卡样品具有不同组分和/或不同梯度。
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