[发明专利]一种闪存存储器健康度的度量方法及度量系统有效
| 申请号： | 201910391744.3 | 申请日： | 2019-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN110211626B | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 吴非;翁阳;李进;王顺卓;谢长生 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 曹葆青;李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种闪存存储器健康度的度量方法及度量系统，属于存储技术领域，包括：分别获取闪存存储器中接口模块、主控模块以及存储介质模块的磨损度并进行归一化，以分别得到归一化之后的磨损度R |
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| 搜索关键词： | 一种 闪存 存储器 健康 度量 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种闪存存储器健康度的度量方法，其特征在于，包括：(1)分别获取闪存存储器中接口模块、主控模块以及存储介质模块的磨损度并进行归一化，以分别得到归一化之后的磨损度R1、磨损度R2和磨损度R3；(2)根据所述磨损度R1、所述磨损度R2和所述磨损度R3，利用预先构建的度量模型对所述闪存存储器的健康度进行度量，以得到所述闪存存储器的健康度；其中，所述度量模型用于根据所述接口模块、所述主控模块以及所述存储介质模块的归一化之后的磨损度度量所述闪存存储器的健康度；三个归一化之后的磨损度中，任意一个磨损度增加，所述度量模型的度量结果都会下降，并且任意一个磨损度高于预设的磨损阈值，所述度量模型的度量结构都会低于预设的健康阈值。
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