[发明专利]一种基于激光连续扫频的三维坐标测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201910394168.8 | 申请日： | 2019-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN110375643B | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 王道档;相超;孔明;许新科;赵军;刘维;郭天太 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01S17/32 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 317523 浙江省台州市温*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于激光连续扫频的三维坐标测量装置及测量方法，包括：光源，产生偏振初始光至第一分光模块；第一分光模块，将偏振初始光分为参考光及第二初始光；第二分光模块，将第二初始光分为若干束检测光至检测模块；检测模块，通过检测光经被测物反射后生产测量光入射到第一分光模块；处理模块，接收第一分光模块的参考光及测量光，并处理。方法包括：根据测量装置建立坐标系；打开光源进行测量数据获取；根据数据计算被测物三维坐标。本发明的实质性效果是：结构简单，不需要采集整幅的干涉信号，且对外界干涉不敏感，仅依靠微弱的激光就可以实现拍频信号的测量，能够实现远距离的三维坐标测量与定位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 激光 连续 三维 坐标 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于激光连续扫频的三维坐标测量装置，其特征在于，包括：光源，产生偏振初始光至第一分光模块；第一分光模块，将偏振初始光分为参考光及第二初始光；第二分光模块，将第二初始光分为若干束检测光至检测模块；检测模块，通过检测光经被测物反射后生产测量光入射到第一分光模块；处理模块，接收第一分光模块的参考光及测量光，并处理。
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