[发明专利]一种抗总剂量的CMOS运算放大器在审

专利信息
申请号: 201910396605.X 申请日: 2019-05-14
公开(公告)号: CN110120791A 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: 廖永波;范天龙;李平 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H03F3/45 分类号: H03F3/45;H01L29/08;H01L29/06;H01L29/78
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于集成电路领域,尤其涉及抗辐照集成电路技术研究领域。随着空间技术以及核工程技术的快速发展,越来越多的CMOS运算放大电路不可避免地应用于辐射环境中并受到各种辐射效应的影响,为了保证CMOS运放的可靠性和性能,抗辐照加固技术的研究始终面临着严峻的挑战。本发明以一种抗总剂量CMOS器件为基础,设计出一种抗总剂量CMOS运算放大电路,在运放的每条支路接地NMOS晶体管使用提出的抗总剂量器件,保证每条支路的总漏电流最小。对运放的尾电流源使用抗总剂量NMOS器件,保证运放的带宽和增益在总剂量辐照前后变化最小。这样得到的抗总剂量CMOS运算放大电路抗辐照能力相比传统的非抗总剂量CMOS运放明显提高。
搜索关键词: 总剂量 运放 运算放大电路 支路 核工程 集成电路技术 集成电路领域 抗辐照加固 抗辐照能力 总剂量辐照 辐照 辐射环境 尾电流源 接地 空间技术 传统的 漏电流 保证 带宽 辐射 研究 应用 挑战
【主权项】:
1.一种抗总剂量CMOS运算放大器,其特征在于:对运放的每条支路接地NMOS晶体管使用提出的抗总剂量器件,保证每条支路的总漏电流最小;电路的具体结构和连接方式如下:在偏置电路中,R1一端接VDD,另一端与M9管的源端连接,M9管的栅极与二极管连接方式的M8管的栅极连接,M8管的源极与VDD连接,M8、M9的宽长比的比值以及R1的阻值决定了偏置电流的大小;M10的栅极与二极管连接方式的M11的栅极连接,M13的栅极与二极管连接方式的M12的栅极连接,M12管和M13管的漏极分别与M11管和M10管的源极连接,M12管和M13管的源极与GND相连接;在输入级电路,M1管和M2管组成差分输入,差分输入对管的漏极连接着电流镜负载管M3管和M4管的漏极,M3管和M4管的源极连接着VDD,M3管和M4管将双端输入转化为单端输出,差分输入对管的源极连接着尾电流源管M5管的漏极,M5源极与GND相连接,M5管栅极于偏置电路连接为差分输入对管提供偏置;在共源输出级电路中,放大管M6的漏极连接着有源负载管M7管,M7管为放大管M6提供静态工作电流和负载;运放抗总剂量加固:在偏置电路中的M12管和M13管、输入级的尾电流源M5管,输出级负载M7管用进行抗总剂量加固。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910396605.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top