[发明专利]一种双层纳米孔的制造方法有效

专利信息
申请号: 201910403548.3 申请日: 2019-05-15
公开(公告)号: CN110272018B 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 袁志山;雷鑫;王成勇 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: C12Q1/6869 分类号: C12Q1/6869;B82Y40/00
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 林丽明
地址: 510006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及微纳器件制备的技术领域,更具体地,涉及一种双层纳米孔的制造方法,包括以下步骤:S10.提供三层纳米薄膜样品,三层纳米薄膜结构包括自上而下设置的第一纳米薄膜、第二纳米薄膜以及第三纳米薄膜;S20.对三层纳米薄膜结构采用离子束刻蚀出三层纳米通孔;S30.对经S20刻蚀的三层纳米薄膜结构对中间层进行各向同性刻蚀;S40.对经S30处理的三层纳米薄膜结构进行加热,第一纳米薄膜和第三纳米薄膜同时缩孔,直至获得所需孔径的双层纳米孔。本发明在离子束刻蚀纳米孔后高温加热实现缩孔,能够制造与DNA等单分子直径相当直径的纳米孔,克服了大部分聚焦离子束无法直接制造直径20nm以下的纳米孔的难题。
搜索关键词: 一种 双层 纳米 制造 方法
【主权项】:
1.一种双层纳米孔的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:S10.提供三层纳米薄膜样品,三层纳米薄膜结构包括自上而下设置的第一纳米薄膜、第二纳米薄膜以及第三纳米薄膜;S20.对步骤S10中所述三层纳米薄膜结构采用离子束刻蚀出三层纳米通孔;S30.对经步骤S20刻蚀的三层纳米薄膜结构对中间层进行各向同性刻蚀;S40.对经步骤S30处理的三层纳米薄膜结构进行加热,第一纳米薄膜和第三纳米薄膜同时缩孔,直至获得所需孔径的双层纳米孔。
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