[发明专利]一种基于微镊的粘附力测试方法在审

专利信息
申请号: 201910409056.5 申请日: 2019-05-11
公开(公告)号: CN110108625A 公开(公告)日: 2019-08-09
发明(设计)人: 索奕双;郭强;张向平 申请(专利权)人: 金华职业技术学院
主分类号: G01N15/10 分类号: G01N15/10;G01N19/04;G01Q60/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 321017 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及新材料研发领域,一种基于微镊的粘附力测试方法,基于微镊的粘附力测试装置包括基座、位移台I、力学测量单元、激光位移计、悬臂、相机架、照相机、位移台II、衬底、颗粒样品、微镊、致动器、位移台III、支架、光学显微镜、计算机和电缆,基于微机电系统驱动的微镊与原子力显微镜的悬臂,用于测量单个微颗粒的粘附力,将微机电系统驱动的微镊与原子力显微镜的悬臂相结合,通过微镊夹住微粒后与悬臂接触来测量单个微颗粒的粘附力,实验过程中无需环氧树脂来固定待测微粒,提高测量精度,能节省测量时间,测量准确度高。
搜索关键词: 粘附 测量 悬臂 位移台 原子力显微镜 微机电系统 力测试 微颗粒 环氧树脂 光学显微镜 激光位移计 力测试装置 准确度 驱动 颗粒样品 力学测量 实验过程 致动器 衬底 镊夹 研发 支架 照相机 电缆 计算机
【主权项】:
1.一种基于微镊的粘附力测试方法,基于微镊的粘附力测试装置包括基座(1)、位移台I(2)、力学测量单元(3)、激光位移计(4)、悬臂(5)、相机架(6)、照相机(7)、位移台II(8)、衬底(9)、颗粒样品(10)、微镊(11)、致动器(12)、位移台III(13)、支架(14)、光学显微镜(15)、计算机和电缆,xyz为三维坐标系,位移台I(2)、相机架(6)、位移台II(8)和支架(14)依次连接于基座(1)上面,位移台I(2)、相机架(6)、微镊(11)、致动器(12)和位移台III(13)分别电缆连接计算机,力学测量单元(3)安装于位移台I(2)上面,通过计算机控制位移台I(2),能够使得力学测量单元(3)分别在xyz三个方向直线移动,悬臂(5)是具有固定端和活动端的金属片,固定端固定于力学测量单元(3)的上面,在不受外力的情况下,固定端与活动端位于同一水平面,激光位移计(4)连接于力学测量单元(3)的侧面,并且激光位移计(4)位于悬臂(5)的活动端下方的20毫米处,用于监测悬臂(5)的活动端在y方向的位移;照相机(7)安装于相机架(6)上,用于监测悬臂(5)的形变,通过计算机控制相机架(6)能够使得照相机(7)分别在xyz三个方向直线移动;衬底(9)位于位移台II(8)上,衬底(9)上面吸附有颗粒样品(10);位移台III(13)和光学显微镜(15)自下而上安装于支架(14)上,位移台III(13)和光学显微镜(15)的位置均能够通过支架(14)进行调节,致动器(12)安装于位移台III(13)的下面,通过计算机控制位移台III(13)能够使得致动器(12)分别在xyz三个方向直线移动,通过计算机对致动器(12)施以不同电压,能够使得致动器(12)在y方向伸缩,微镊(11)固定于致动器(12)的下面,微镊(11)的前端具有两个操纵指,通过计算机控制微镊(11)能够使操纵指开启或闭合,操纵指能够抓取颗粒样品(10),被抓取测试的颗粒样品(10)称为待测微粒,微镊(11)具有微机电力传感器,微机电力传感器能够将测得的微镊(11)受到的力的信息传输入计算机;悬臂(5)为原子力显微镜的悬臂,悬臂(5)的长度为250微米、宽度为30微米、厚度为0.9微米,悬臂(5)的弹性系数为0.09牛/米,颗粒样品(10)的尺寸范围为0.5微米到5微米,微镊(11)由硅材料微加工制成,微镊(11)前端的两个操纵指之间最大间隙为8微米,两个操纵指之间能够施加的最大力为400微牛,致动器(12)由压电陶瓷制成,致动器(12)在y方向的最小伸缩步进为50纳米,其特征是:所述的一种基于微镊的粘附力测试方法的步骤为:步骤一,通过支架(14)调节光学显微镜(15)的位置,使光学显微镜(15)位于衬底(9)的正上方,用于观测衬底(9)表面的情况及微镊(11)的移动情况,通过支架(14)调节位移台III(13)的位置,使位移台III(13)位于衬底(9)的侧上方,通过计算机控制位移台III(13)及致动器(12),使得微镊(11)移动至衬底(9)的正上方200微米处;步骤二,通过计算机控制,使致动器(12)在y方向伸长,并使得微镊(11)的前端移动至与衬底(9)表面相接触,然后,通过计算机控制,使致动器(12)在y方向收缩,并使得微镊(11)的前端向上移动1微米;步骤三,通过计算机控制位移台III(13),使得微镊(11)在水平面内移动,并使得微镊(11)前端的两个操纵指位于一个待测微粒的两侧,通过计算机控制微镊(11)前端的操纵指进行闭合操作,使得两个操纵指将待测微粒夹住;步骤四,通过支架(14)调节光学显微镜(15)的位置,使得光学显微镜(15)位于悬臂(5)正上方,用于观测悬臂(5)的形变情况及微镊(11)的移动情况,通过支架(14)调节位移台III(13)的位置,使位移台III(13)位于悬臂(5)的侧上方,通过计算机控制位移台III(13),使得致动器(12)及微镊(11)移动至悬臂(5)的正上方200微米处;步骤五,通过计算机控制,使致动器(12)在y方向伸长,并使得微镊(11)前端的待测微粒自上而下以2微米/秒速度移动,直到与悬臂(5)活动端的上表面接触,同时,微镊(11)中的微机电力传感器测得微镊(11)的受力发生变化,或者激光位移计(4)测得悬臂(5)活动端产生了沿y负方向的移动,则说明待测微粒与悬臂(5)接触;步骤六,通过计算机控制,使致动器(12)在y方向伸长,并使得微镊(11)前端的待测微粒继续自上而下以0.5微米/秒速度移动,直到激光位移计(4)测得的悬臂(5)的活动端向下偏离初始位置为1微米;步骤七,通过计算机控制位移台I(2),使得力学测量单元(3)带动悬臂(5)的固定端沿y负方向以0.5微米/秒速度移动,直到待测微粒与悬臂(5)分离;步骤八,通过激光位移计(4)记录悬臂(5)的活动端在y方向的位移,并得到悬臂(5)的活动端与待测微粒分离的时刻在y方向的位置y1,计算得到悬臂(5)的活动端的偏向距离Δy=y1‑y0,其中y0为悬臂(5)的活动端在不受外力时在y方向的初始位置;步骤九,通过悬臂(5)的弹性系数和悬臂(5)的活动端与待测微粒分离时刻的偏向距离Δy的乘积,从而得到待测微粒在悬臂(5)表面的粘附力。
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