[发明专利]一种磁流变抛光驻留时间的处理方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910411413.1 申请日: 2019-05-16
公开(公告)号: CN110134915B 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 唐才学;温圣林;张远航;颜浩;嵇保建;王翔峰;邓燕;石琦凯;张清华;杨春林 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G06F17/16 分类号: G06F17/16;G06F17/15;B24B1/00
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 曹鹏飞
地址: 621900*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种磁流变抛光驻留时间的处理方法及装置,该方法通过采用驻留点矩阵的方法,保持了在卷积计算时矩阵E、P的整体连续性,因此在计算卷积时,可以采用更高效的卷积计算方法;同时该方法从机床动态性能匹配的角度出发,实现了驻留时间计算过程中速度、加速度、速度匀滑性的有效控制,使得驻留时间计算方法具有面形收敛精度高、计算速度快与机床动态性能匹配等优点,适用于磁流变加工中驻留时间的求解,尤其是在大规模计算时相比于矩阵法具有较高的计算效率,是一种有效的驻留时间计算方法,可以提高磁流变加工的面形收敛精度,是值得推广的一种驻留时间计算方法。
搜索关键词: 一种 流变 抛光 驻留 时间 处理 方法 装置
【主权项】:
1.一种磁流变抛光驻留时间的处理方法,其特征在于,包括:构建步骤:根据路径信息、原始面形输入矩阵P,构建驻留点矩阵DP;赋值步骤:对驻留时间矩阵T进行迭代计算,赋值操作:rms1=rms0;更新步骤:更新驻留时间矩阵T,Tk+1=Tk+α·Ek/vol;其中,Tk+1表示第k+1次迭代驻留时间矩阵的值,Tk表示第k次迭代驻留时间矩阵的值,Ek表示第k次迭代残差矩阵E的值;检查步骤:检查驻留时间矩阵Tk+1数据点最大速度、加速度、匀滑性的有效性;计算步骤:分别计算驻留时间矩阵Tk+1,残余误差矩阵Ek+1,残余误差矩阵Ek+1的RMS值及RMS值的变化率;第一确定步骤:确定第k+1次迭代残差面形的RMS的变化率grms1是否小于第k次迭代误差面的RMS的变化率grms0;当小于时,迭代次数增大1,k=k+1;否则,调整步长调节因子系数ξ,间接改变力度度系数α=ξα,执行所述赋值步骤;判断步骤:判断当前迭代次数是否达到最大迭代次数,且当前迭代误差是否小于最大允许误差;当满足时,对grms0重新赋值grms0=grms1,执行所述赋值步骤;否则,执行结束步骤;结束步骤:结束迭代过程,得到最终结果:驻留时间矩阵Tk+1,面形残余误差矩阵Ek+1
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