[发明专利]一种大口径全谱段高光谱载荷高稳定性探测系统在审
申请号: | 201910414420.7 | 申请日: | 2019-05-17 |
公开(公告)号: | CN110186564A | 公开(公告)日: | 2019-08-30 |
发明(设计)人: | 张兆会;王锋;孙丽军;李立波;王爽;王飞橙;武登山;柯善良;贾昕胤;李思远 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/02;G02B7/182;G02B17/06;G02B27/10;G02B27/42 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 董娜 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明提供了一种大口径全谱段高光谱载荷高稳定性探测系统,解决现有光学系统结构形式难以满足严苛的轻量化、高稳定性、高精度的要求,以及不能实现全谱段光学器件支撑的问题。该探测系统包括主支撑结构、前置望远镜系统、三镜组镜系统及全谱段高光谱仪系统,主支撑结构包括采用SiC材料制成的基板,前置望远镜系统设置在基板的正面,三镜组系统设置在基板的反面,用于反射次前置望远镜系统输出的光束,并将光束折转为两路,分别进入全谱段高光谱仪系统,全谱段高光谱仪系统用于获取地面目标的全色、可见近红外谱段、短波红外谱段、中波红外谱段、长波红外谱段的空间信息图像和全色/光谱影像图,能够实现全波段共6个光学载荷的同支撑设计。 | ||
搜索关键词: | 全谱 望远镜系统 高光谱仪 高稳定性 探测系统 基板 前置 主支撑结构 红外谱段 大口径 高光谱 全色 三镜 可见近红外谱段 短波红外谱段 光学系统结构 长波 地面目标 光谱影像 光学器件 空间信息 系统设置 轻量化 全波段 两路 支撑 组镜 反射 图像 输出 | ||
【主权项】:
1.一种大口径全谱段高光谱载荷高稳定性探测系统,其特征在于:包括主支撑结构(10)、前置望远镜系统(11)、三镜组系统及全谱段高光谱仪系统;所述主支撑结构(10)包括采用SiC材料制成的基板;所述基板的正面(2)通过两个相互平行的第一加强筋(4)分为左区域(21)、中间区域(22)及右区域(23);所述中间区域(22)的中部开设有镜组安装孔(24),镜组安装孔(24)以外的部分设有多个三角形减重槽(3);所述左区域(21)和右区域(23)结构相同,且以中间区域(22)对称分布,左区域(21)和右区域(23)均设有多个三角形减重槽(3);所述基板的反面(1)为一平面,其上设有多个用于安装光学组件的螺纹孔,多个螺纹孔均开设在三角形减重槽(3)的槽壁上;所述前置望远镜系统(11)设置在基板的正面,包括主反射镜(111)、次反射镜(112)及桁架组件;所述主反射镜(111)安装在镜组安装孔位置,主反射镜(111)中部开有通光孔;次反射镜(112)通过桁架组件同轴固定在主反射镜(111)的上方,入射光束依次经主反射镜(111)和次反射镜(112)反射后经过通光孔;所述三镜组系统设置在基板的反面,用于反射次反射镜(112)输出的光束,并将光束折转为两路,分别为第一光束(31)和第二光束(32);所述全谱段高光谱仪系统设置在基板的反面,包括第一成像单元和第二成像单元,所述第一成像单元包括第一中继变倍镜组、第一全色成像组件(17)、第一分色镜(18)、短波红外高光谱组件、长波红外高光谱组件及第一真空制冷杜瓦组件,所述第一光束(31)的一部分光束进入第一全色成像组件(17),其余部分光束经过第一中继变倍镜组中继变倍后,经第一分色镜(18)进行分色,分为两路,分别进入短波红外高光谱组件和长波红外高光谱组件,所述长波红外高光谱组件安装在第一真空制冷杜瓦组件内;所述第二成像单元包括第二中继变倍镜组、第二全色成像组件(20)、第二分色镜(25)、可见光高光谱组件、中波红外高光谱组件及第二真空制冷杜瓦组件,所述第二光束(32)的一部分光束被第二全色成像组件(20)接收,其余部分光束经过第二中继变倍镜组中继变倍后,经第二分色镜(25)进行分色,分为两路,分别进入可见光高光谱组件和中波红外高光谱组件,所述中波红外高光谱组件安装在第二真空制冷杜瓦组件内。
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