[发明专利]硅半导体产品和氮化镓产品的混合生产的方法有效
申请号: | 201910418758.X | 申请日: | 2019-05-20 |
公开(公告)号: | CN110120333B | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | 潘嘉;杨继业;黄璇 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 郭四华 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅半导体产品和氮化镓产品的混合生产的方法,包括步骤:步骤一、提供硅半导体产品和氮化镓产品的混合生产线,混合生产线是在硅半导体产品的生产线的设备增加氮化镓产品的专用生产设备组成;步骤二、进行混合生产,在混合生产中,氮化镓产品的生产步骤包括:步骤21、提供晶圆;步骤22、采用氮化镓产品的专用生产设备在晶圆上形成具有镓含量的外延层;步骤23、在完成所有具有镓含量的外延层后,在晶圆背面形成镓扩散隔离层以防止晶圆的背面区域中的镓向外扩散。本发明能降低氮化镓产品的生产成本,还能实现氮化镓产品和硅半导体产品的集成。 | ||
搜索关键词: | 半导体 产品 氮化 混合 生产 方法 | ||
【主权项】:
1.一种硅半导体产品和氮化镓产品的混合生产的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、提供硅半导体产品和氮化镓产品的混合生产线,所述混合生产线是在硅半导体产品的生产线的设备增加所述氮化镓产品的专用生产设备组成;所述硅半导体产品和所述氮化镓产品采用由单晶硅组成的晶圆作为衬底结构;步骤二、进行所述硅半导体产品和所述氮化镓产品的混合生产,在所述混合生产中,所述氮化镓产品的生产步骤包括:步骤21、提供所述氮化镓产品所需的晶圆;步骤22、采用所述氮化镓产品的专用生产设备在所述晶圆上形成具有镓含量的外延层;在形成所述具有镓含量的外延层的过程中会有镓扩散到所述晶圆的背面区域中;步骤23、在完成所有所述具有镓含量的外延层后,在所述晶圆背面形成镓扩散隔离层,所述镓扩散隔离层防止所述晶圆的背面区域中的镓向外扩散。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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