[发明专利]一种基于调节发射队列降低微处理器软错误易感性的方法在审
| 申请号： | 201910418835.1 | 申请日： | 2019-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN110162339A | 公开（公告）日： | 2019-08-23 |
| 发明（设计）人： | 虞致国;高苗;顾晓峰 | 申请（专利权）人： | 江南大学 |
| 主分类号： | G06F9/38 | 分类号： | G06F9/38;G06F11/00 |
| 代理公司： | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人： | 林娟 |
| 地址： | 214000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于调节发射队列降低微处理器软错误易感性的方法，属于微处理器部件的软错误缓解研究领域。本发明通过降低发射队列占用对微处理器的发射队列进行软错误缓解。大量的指令被存放在发射队列中，使得发射队列十分容易受到软错误的影响。因此本发明通过对指令块数据相关图进行多次迭代遍历，从而找到指令块的最长关键路径，并将这个最长关键路径作为发射队列的动态尺寸。本发明通过静态编译动态调整发射队列尺寸提供了一种微处理器软错误易感性缓解方法。 | ||
| 搜索关键词： | 队列 发射 微处理器 易感性 关键路径 指令 缓解 微处理器部件 动态调整 队列占用 多次迭代 静态编译 块数据 遍历 研究 | ||
【主权项】：
1.一种降低微处理器软错误易感性的方法，其特征在于，所述方法为：根据指令之间的逻辑关系以及指令的延迟周期进行多次迭代遍历，找到指令的最长关键路径，并将这个最长关键路径作为发射队列的动态尺寸，从而降低微处理器软错误易感性，所述最长关键路径为每轮迭代中最老和最年轻的指令节点之间的关键路径长度的最大值，所述最老和最年轻的指令节点分别为发射组内停留时间最长和最短的指令节点。
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