[发明专利]一种基于TSV的积累型MOS变容二极管及其制备方法有效
申请号: | 201910419518.1 | 申请日: | 2019-05-20 |
公开(公告)号: | CN110112223B | 公开(公告)日: | 2022-05-20 |
发明(设计)人: | 王凤娟;文炳成;余宁梅 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | H01L29/93 | 分类号: | H01L29/93;H01L29/94;H01L21/329 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 罗笛 |
地址: | 710048 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于TSV的积累型MOS变容二极管,包括P型硅衬底,硅衬底上开设有通孔,通孔中从内向外依次设置有金属柱和介质层,金属柱引出有端子a,靠近通孔端部的介质层与硅衬底之间设置有P型参杂区,P型参杂区的端面上引出有端子b。本发明还公开了一种基于TSV的积累型MOS变容二极管的制备方法,本发明基于TSV的积累型MOS变容二极管相比平面积累型MOS变容二极管具有更高的品质因数、更低的寄生电阻、更低的相位噪声和更好的调谐线性度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 tsv 积累 mos 变容二极管 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于TSV的积累型MOS变容二极管,其特征在于,包括P型硅衬底(5),硅衬底(5)上开设有通孔(6),通孔(6)中从内向外依次设置有金属柱(1)和介质层(2),金属柱(1)引出有端子a(7),靠近通孔(6)端部的介质层(2)与硅衬底(5)之间设置有P型参杂区(4),P型参杂区(4)的端面上引出有端子b(8)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安理工大学,未经西安理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910419518.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种沟槽肖特基二极管及制作方法
- 下一篇:光重定向膜和光伏模块
- 同类专利
- 专利分类