[发明专利]基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法有效
申请号: | 201910420731.4 | 申请日: | 2019-05-20 |
公开(公告)号: | CN110135088B | 公开(公告)日: | 2022-08-23 |
发明(设计)人: | 俞洋;张晔;姜月明;徐康康;彭喜元 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G06F30/36 | 分类号: | G06F30/36;G01R31/316 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 刘冰 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法,属于电子系统可靠性领域。电路早期故障状态和正常工作状态有较大混叠难以区分,导致检测结果不理想。基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法,确定电路的输出信号及分析电路中可能存在的退化源作为电路的关键元器件;建立关键元器件的退化模型,通过仿真实验获取退化数据;对电路的输出信号进行特征提取,提取出能够反映输出信号退化的特征参数;建立基于退化的特征参数的正常包络模型并进行检测,完成电路的早期故障检测。 | ||
搜索关键词: | 基于 退化 特征 参数 正常 包络 模型 模拟 电路 早期 故障 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:步骤一、确定电路的输出信号及分析电路中可能存在的退化源作为电路的关键元器件;步骤二、建立关键元器件的退化模型,通过仿真实验获取退化数据;步骤三、对电路的输出信号进行特征提取,提取出能够反映输出信号退化的特征参数;步骤四、建立基于退化的特征参数的正常包络模型并进行检测,完成电路的早期故障检测。
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