[发明专利]一种用于测试DFB激光器、单光子探测器的装置及其测试方法

摘要

本发明公开了一种用于测试DFB激光器、单光子探测器的装置，包括测试电路，该测试电路包括控制器、时钟模块、时间位置测量模块、光源模块、光衰减模块、分光器模块，且上述部件构成的测试电路能够对单光子探测器设备进行测试；所述光源模块包括窄脉冲调节电路、DFB激光器驱动电路、DFB激光器夹具，且包括上述部件的光源模块和控制器构成的测试电路能够测试DFB激光器。本发明的装置能够避免外接光源设备、光衰减器，采用该装置的测试方法能够解决单光子探测器的探测效率、暗计数概率、后脉冲概率、有效门宽的测试标定问题；采用该装置的测试方法能够完成对量子保密通信中的DFB激光器的光学参数、技术指标进行测试。

主权项

1.一种用于测试DFB激光器、单光子探测器的装置，包括测试电路，其特征在于：所述的测试电路包括控制器、时钟模块、时间位置测量模块、光源模块、光衰减模块、分光器模块；控制器，用于接收人机交换设备发出的指令并根据接收到的指令生成相应的控制指令，并将所述控制指令发送给对应模块，且能够接收所述对应模块传输来的信息并传输给所述人机交换设备；在控制器上设置有能够与人机交换设备相连接的端口以及多个与对应模块相连接的端口；时钟模块，用于接收所述控制器发出的控制指令并根据所述控制指令生成同步时钟信号，将所述同步时钟信号发送给单光子探测器设备和时间位置测量模块；在时钟模块上设置有与单光子探测器设备和时间位置测量模块相连接的端口；时间位置测量模块，用于接收所述单光子探测器设备发出的计数脉冲信号和接收所述时钟模块输出的所述同步时钟信号，将所述计数脉冲信号直接传输给所述控制器、或者根据所述计数脉冲信号和所述同步时钟信号进行时间位置测量并将所述时间位置测量的结果传输给所述控制器；在时间位置测量模块上设置有与单光子探测器设备相连接的端口；光源模块，用于接收所述控制器发出的发光指令并生成激光发射至所述的光衰减模块；光衰减模块，用于接收所述光源模块发出的激光和接收所述控制器发出的控制指令，并根据所述控制指令将接收到的所述激光衰减生成特定光强的衰减激光；分光器模块，用于接收所述特定光强的衰减激光，并将单光子状态的衰减激光输出至所述单光子探测器设备；在分光器模块上设置有与所述单光子探测器设备相连接的端口；上述控制器、时钟模块、时间位置测量模块、光源模块、光衰减模块、分光器模块构成的测试电路能够进行单光子探测器设备的性能测试；所述光源模块包括窄脉冲调节电路、DFB激光器驱动电路、DFB激光器夹具；窄脉冲调节电路，用于接收所述控制器输出的驱动信号，并生成百ps量级的窄脉冲电流；DFB激光器驱动电路，用于接收所述百ps量级的窄脉冲电流，并在所述控制器的控制下将所述百ps量级的窄脉冲电流传递给DFB激光器夹具上的DFB激光器的RF‑端、DC‑端使其发光，用于在所述控制器的控制下设定DFB激光器夹具上的DFB激光器的RF‑端、DC‑端的电流值；DFB激光器夹具，用于放置DFB激光器以测试DFB激光器的性能，并能够向光衰减模块或者测量仪器发射激光；在DFB激光器夹具上设置有能够分别与DFB激光器的RF‑端、DC‑端、激光输出端相连接的引脚，以及分别与DFB激光器驱动电路、光衰减模块或者测量仪器相连接的引脚；上述的控制器、窄脉冲调节电路、DFB激光器驱动电路、DFB激光器夹具构成的测试电路能够测试DFB激光器的性能。