[发明专利]一种采用表面磁导技术的缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201910427705.4 | 申请日： | 2019-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN110187001B | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 卢永雄;阮鸥;陆智明;王康;黄威;王子豪;赵琴;关江浩;凌威 | 申请（专利权）人： | 西红柿科技（武汉）有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/82 | 分类号： | G01N27/82;G01N27/83 |
| 代理公司： | 深圳市兰锋盛世知识产权代理有限公司 44504 | 代理人： | 马世中 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明适用于无损检测技术领域，提供一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置及检测方法，所述缺陷检测装置包括磁桥，所述磁桥两端下方各设置一块磁铁，这两块磁铁极性方向相反放置，其中一块磁铁的下方固定有磁敏元件。本发明可以区分上表面焊瘤和腐蚀坑，有利于排除焊瘤对检测信号的干扰；另外结合漏磁检测技术，可以进一步区分缺陷在上表面或下表面，可以确定缺陷的位置，更准确的评估储罐的剩余寿命；另外，在缺陷定量方面，可以确定缺陷的深度；此外，对于缺陷形貌的检测更准确，同时麻坑太多时的检测问题也得到了解决，通过表面磁导技术所得数据，可以检测出上表面的蜂窝麻面。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 表面 技术 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置包括磁桥，所述磁桥两端下方各设置一块磁铁，这两块磁铁极性方向相反放置，其中一块磁铁的下方固定有磁敏元件。
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