[发明专利]一种原位拉伸装置及其制备方法在审
申请号: | 201910430801.4 | 申请日: | 2019-05-22 |
公开(公告)号: | CN110261221A | 公开(公告)日: | 2019-09-20 |
发明(设计)人: | 毛圣成;李志鹏;韩晓东;邓青松;沙学超;张剑飞;翟亚迪;李雪峤;马东锋;栗晓辰;张晴;马腾云;王立华;张泽 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/02;B23K10/00 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 苗青盛;吴欢燕 |
地址: | 100022 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及纳米材料力学性能与显微结构原位表征技术领域,提供一种原位拉伸装置及其制备方法,所述的制备方法包括:在MEMS力学芯片上对搭载的板料进行切割操作,得到第一拉伸辅助件、第二拉伸辅助件和预拉伸样品;对预拉伸样品进行减薄操作,以得到拉伸样品;第一拉伸辅助件连接MEMS力学芯片的第一搭载侧,拉伸样品的两端分别连接第二拉伸辅助件与MEMS力学芯片的第二搭载侧;第一拉伸辅助件与第二拉伸辅助件相嵌套成勾套结构;本发明设计巧妙、操作便捷,实现了在MEMS力学芯片上直接制备拉伸样品和用于辅助拉伸的勾套结构,可以有效防止拉伸样品在实验前出现变形或损坏的问题,提高了拉伸实验的成功率和检测结果的准确性。 | ||
搜索关键词: | 拉伸 辅助件 力学 芯片 制备 原位拉伸装置 预拉伸 勾套 嵌套 辅助拉伸 检测结果 拉伸实验 力学性能 纳米材料 显微结构 原位表征 直接制备 板料 减薄 成功率 变形 切割 | ||
【主权项】:
1.一种原位拉伸装置的制备方法,其特征在于,包括:在MEMS力学芯片上对搭载的板料进行的切割操作,得到第一拉伸辅助件、第二拉伸辅助件和预拉伸样品;对预拉伸样品进行减薄操作,以得到拉伸样品;所述第一拉伸辅助件连接MEMS力学芯片的第一搭载侧,所述拉伸样品的两端分别连接第二拉伸辅助件与MEMS力学芯片的第二搭载侧;所述第一拉伸辅助件与所述第二拉伸辅助件相嵌套成勾套结构。
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