[发明专利]光捕获颗粒的控制装置及方法在审
申请号: | 201910432244.X | 申请日: | 2019-05-22 |
公开(公告)号: | CN110262029A | 公开(公告)日: | 2019-09-20 |
发明(设计)人: | 郑瑜;孙方稳 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G02B21/32 | 分类号: | G02B21/32;G21K1/06 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周天宇 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 一种光捕获颗粒的控制装置,应用于光电技术领域,包括:光捕获单元、数字反馈控制单元和上位机,光捕获单元用于测量被捕获微纳颗粒的三维位置信号,并将三维位置信号传输给数字反馈控制单元和上位机,上位机用于根据三维位置信号,生成反馈控制参数,并发送反馈控制参数给所述数字反馈控制单元,数字反馈控制单元用于将根据三维位置信号、反馈控制参数、目标运动状态,生成反馈控制信号给所述光捕获单元,以对所述光捕获单元进行反馈控制。本发明还公开了一种光捕获颗粒的控制方法,可实现对光捕获颗粒振动冷却、振动幅度、振动频率等运动状态的控制。 | ||
搜索关键词: | 光捕获 三维位置信号 数字反馈 反馈控制参数 上位机 控制装置 反馈控制信号 光电技术领域 目标运动状态 反馈控制 运动状态 振动幅度 振动频率 纳颗粒 捕获 冷却 测量 发送 传输 应用 | ||
【主权项】:
1.一种光捕获颗粒的控制装置,其特征在于,包括:光捕获单元、数字反馈控制单元和上位机;所述光捕获单元,用于测量被捕获微纳颗粒的三维位置信号,并将所述三维位置信号传输给所述数字反馈控制单元和上位机;所述上位机,用于根据所述三维位置信号,生成反馈控制参数,并发送所述反馈控制参数给所述数字反馈控制单元;所述数字反馈控制单元,用于将根据所述三维位置信号、所述反馈控制参数、目标运动状态,生成反馈控制信号给所述光捕获单元,以对所述光捕获单元进行反馈控制。
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