[发明专利]一种目标缺陷提取方法有效
| 申请号： | 201910434060.7 | 申请日： | 2019-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN110288566B | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 刘畅;易礼燕;周宇华;张玉成;周一青;石晶林 | 申请（专利权）人： | 北京中科晶上科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇;李科 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种目标缺陷提取方法，包括：步骤1)从目标图像的实际灰度直方图中选取数据进行拟合，得到所述目标图像的标准灰度直方图；步骤2)获取所述实际灰度直方图和所述标准灰度直方图的第一个交点以及最后一个交点；步骤3)根据所述第一个交点和最后一个交点确定两个灰度值作为阈值；根据所述阈值对所述目标图像进行阈值分割，得到疑似缺陷。本发明能够较完整地提取到疑似缺陷、精度较高同时减少了过分割的现象。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 目标 缺陷 提取 方法 | ||
【主权项】：
1.一种目标缺陷提取方法，包括：步骤1)从目标图像的实际灰度直方图中选取数据进行拟合，得到所述目标图像的标准灰度直方图；步骤2)获取所述实际灰度直方图和所述标准灰度直方图的第一个交点以及最后一个交点；步骤3)根据所述第一个交点和最后一个交点确定两个灰度值作为阈值；以及根据所述阈值对所述目标图像进行阈值分割，得到疑似缺陷。
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