[发明专利]基于MPPC阵列的α、β和γ表面污染仪探测器及其组装方法在审
| 申请号： | 201910437288.1 | 申请日： | 2019-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN110082809A | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 张志勇;刘思平;李晨 | 申请（专利权）人： | 上海仁机仪器仪表有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/167 | 分类号： | G01T1/167;G01T1/20 |
| 代理公司： | 上海领洋专利代理事务所(普通合伙) 31292 | 代理人： | 罗晓鹏 |
| 地址： | 200124 上海市崇明区横沙乡富*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于MPPC阵列的α、β和γ表面污染仪探测器及其组装方法，该探测器包括探测粒子所产生的光子的双闪探测器，用于将所述双闪探测器探测到的光子进行反射的反射碗(1)，用于接收所述反射碗反射的光子并将光信号转换成电荷信号的硅光电倍增器，以及用于对所述硅光电倍增器形成的电荷信号进行活度测量的信号处理电路。本发明提供的探测器利用硅光电倍增器实现光信号与电荷信号之间的转换硅光电倍增器电压低、体积小、可阵列使用，解决了探测面的位置响应差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 探测器 硅光电倍增器 电荷信号 光子 表面污染 反射碗 反射 探测 组装 信号处理电路 光信号转换 探测粒子 位置响应 电压低 体积小 活度 测量 转换 | ||
【主权项】：
1.一种基于MPPC阵列的α、β和γ表面污染仪探测器，其特征在于：该探测器包括：双闪探测器，探测粒子所产生的光子；反射碗(1)，用于将所述双闪探测器探测到的光子进行反射；硅光电倍增器，用于接收所述反射碗反射的光子并将光信号转换成电荷信号；信号处理电路，用于对所述硅光电倍增器形成的电荷信号进行活度测量。
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