[发明专利]一种用于测量源端热态反射系数的测量方法及测量装置在审

专利信息
申请号: 201910438318.0 申请日: 2019-05-24
公开(公告)号: CN110118895A 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: 刘挺;杨绪军 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R27/06 分类号: G01R27/06
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种用于测量源端热态反射系数的测量方法,所述测量方法包括:S1、利用矢量网络分析仪对负载调配系统的阻抗进行定标;S2、将所述负载调配系统接入功率源和负载之间;S3、打开所述功率源中的信号源,调节所述负载调配系统,使所述负载调配系统与所述功率源中的功率放大器达到完全匹配状态,获取完全匹配状态下的所述负载调配系统中双定向耦合器输入端口的输入阻抗;S4、基于阻抗匹配原理,计算源端热态反射系数。
搜索关键词: 调配系统 反射系数 功率源 热态 匹配状态 测量 测量源 矢量网络分析仪 双定向耦合器 阻抗匹配原理 功率放大器 测量装置 输入端口 输入阻抗 计算源 信号源 定标 阻抗
【主权项】:
1.一种用于测量源端热态反射系数的测量方法,其特征在于,所述测量方法包括:S1、利用矢量网络分析仪对负载调配系统的阻抗进行定标;S2、将所述负载调配系统接入功率源和负载之间;S3、打开所述功率源中的信号源,调节所述负载调配系统,使所述负载调配系统与所述功率源中的功率放大器达到完全匹配状态,获取完全匹配状态下的所述负载调配系统中双定向耦合器输入端口的输入阻抗;S4、基于阻抗匹配原理,计算源端热态反射系数。
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