[发明专利]功放的测试方法在审

专利信息
申请号: 201910441346.8 申请日: 2019-05-24
公开(公告)号: CN110099350A 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 张坤 申请(专利权)人: 晶晨半导体(上海)股份有限公司
主分类号: H04R29/00 分类号: H04R29/00
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201203 上海市浦东新区中国*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了功放的测试方法,属于硬件测试领域。本发明采用控制端控制测试端对待测设备依据测试规则依次进行,排查待测设备的功放是否正常,从而为待测设备的语音识别功能正常运行提供保障,可快速准确的定位待测设备的故障位置,提高了检测效果。
搜索关键词: 待测设备 功放 语音识别功能 测试 测试规则 故障位置 控制测试 硬件测试 控制端 排查 检测
【主权项】:
1.一种功放的测试方法,其特征在于:待测设备分别与控制端和测试端连接,所述控制端与所述测试端连接;所述控制端控制所述测试端对所述待测设备进行测试;所述测试方法包括下述步骤:S1.所述控制端对所述待测设备进行声道测试,判断输出的声道信号是否符合第一预设条件,若是,执行步骤S2;若否,执行步骤S7;S2.所述控制端对所述待测设备进行总谐波失真加噪声测试,判断输出的声道信号是否符合第二预设条件,若是,执行步骤S3;若否,执行步骤S7;S3.所述控制端对所述待测设备进行串扰测试,判断输出的声道信号是否符合第三预设条件,若是,执行步骤S4;若否,执行步骤S7;S4.所述控制端对所述待测设备进行幅频响应测试,判断输出的声道信号是否符合第四预设条件,若是,执行步骤S5;若否,执行步骤S7;S5.所述控制端对所述待测设备进行相位差及电平差测试,判断输出的声道信号是否符合第五预设条件,若是,执行步骤S6;若否,执行步骤S7;S6.所述控制端对所述待测设备进行噪声比测试,识别输出的声道信号是否符合第六预设条件,执行步骤S7;S7.生成测试结果结束。
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