[发明专利]一种高分宽幅星载马赛克SAR成像处理方法及系统在审
申请号: | 201910447782.6 | 申请日: | 2019-05-27 |
公开(公告)号: | CN110208798A | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 杨娟娟;高阳;贺荣荣;吴疆;党红杏;谭小敏;王万林 | 申请(专利权)人: | 西安空间无线电技术研究所 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 高志瑞 |
地址: | 710100*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种高分宽幅星载马赛克SAR成像处理方法及系统,其中,该方法提出和分析了大斜视角下用高精度距离徙动校正算法(RMA)做距离徙动校正(RCMC)后的方位信号扩展问题,然后通过方位分子孔径升采样+方位信号扩展+RMA‑RCMC+方位尺度变标+方位SPECAN的成像处理方式解决了多普勒中心频率随距离频率的变化、等效速度二维空变和大斜视高精度RCMC,实现了高分宽幅马赛克SAR的高精度成像。该方法相比较于两步式等其他算法,得到的图像采样单元和分辨率量级更相当,有更高的数据处理效率,且有效解决了子孔径方法处理高分宽幅马赛克的局限性。同时,本发明中算法精度高、稳健且实用性强。 | ||
搜索关键词: | 马赛克 宽幅 算法 方位信号 动校正 星载 数据处理效率 图像采样单元 高精度成像 多普勒 成像处理 分子孔径 精度距离 有效解决 中心频率 两步式 升采样 斜视角 子孔径 分辨率 二维 斜视 尺度 分析 | ||
【主权项】:
1.一种高分宽幅星载马赛克SAR成像处理方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:步骤S1:根据星历、姿态、波束角和DEM信息,计算burst各方位时刻波束中心多普勒频率fdc(ta)、方位中心时刻各距离门的等效速度Ve(r),并线性拟合burst各方位时刻波束中心多普勒频率fdc(ta)得到波束中心多普勒调频斜率Ka_rot和busrt中心时刻的方位多普勒时间ta,mid,并得到尺度变化参考斜距rscl和尺度变标参考调频斜率Ka_scl;步骤S2:根据波束中心多普勒调频斜率Ka_rot、系统瞬时多普勒带宽Ba_3dB和系统脉冲重复频率PRF,等长度地划分方位子孔径;步骤S3:对各子孔径进行旁瓣抑制加窗和子孔径重叠区域有效拼接加窗;步骤S4:根据系统带宽、burst中心斜视角θsq,c和中心距离门等效速度Vr,scl,得到多普勒频率随距离频率的最大变化量Δfdc,并进一步得到升采样所用的脉冲重复频率PRFnew;步骤S5:对各子孔径进行多普勒频率随距离频率的变化校正,首先根据步骤S4中脉冲重复频率PRFnew,扩展信号频率轴范围,再在时域补偿多普勒频率随距离频率的变化校正因子;步骤S6:根据burst中心斜视角θsq,c、中心距离门等效速度Vr,scl和斜距r,得到各子孔径RMA‑RCMC造成的最大方位信号扩展长度Δta,max和双曲到尺度变标引起的最大方位信号时移Δtv,max;步骤S7:根据步骤S6中各子孔径RMA‑RCMC造成的最大方位信号扩展长度Δta,max和双曲到尺度变标引起的最大方位信号时移Δtv,max,计算方位信号扩展点数并对方位信号进行时域扩展,然后进行高精度RMA‑RCMC;并根据各距离门的等效速度Ve(r)和尺度变标参考调频斜率Ka_scl,完成双曲到二次尺度变标;步骤S8:对各子孔径进行拼接,并根据波束中心多普勒调频斜率Ka_rot完成波束中心多普勒调频率去斜;步骤S9:根据步骤S1中的波束中心多普勒调频斜率Ka_rot和尺度变标参考调频斜率Ka_scl计算方位残余调频斜率Ka_eff,通过SPECAN完成方位聚焦。
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