[发明专利]一种GaAs光导开关载流子浓度分布变化测试方法及光路有效

专利信息
申请号: 201910448737.2 申请日: 2019-05-28
公开(公告)号: CN110133471B 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 栾崇彪;赵娟;李洪涛;马勋;肖金水;黄宇鹏 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
主分类号: G01R31/265 分类号: G01R31/265
代理公司: 绵阳山之南专利代理事务所(普通合伙) 51288 代理人: 沈强
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种GaAs光导开关载流子浓度分布变化测试方法,属于半导体器件测试领域,本发明利用激光照射GaAs光导开关的不同位置,根据被照射位置折射率的变化,获得GaAs光导开关导通过程中内部载流子浓度分布变化曲线,本发明提供的GaAs光导开关导通过程中内部载流子准动态分布诊断方法,填补了光导开关内载流子浓度分布变化诊断的空白,可为新型GaAs光导开关设计提供依据。
搜索关键词: 一种 gaas 开关 载流子 浓度 分布 变化 测试 方法
【主权项】:
1.一种GaAs光导开关载流子浓度分布变化测试方法,其特征在于利用激光照射GaAs光导开关的不同位置,根据被照射位置折射率的变化,获得GaAs光导开关导通过程中内部载流子浓度分布变化曲线。
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