[发明专利]零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201910451062.7 | 申请日： | 2019-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN110146182B | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 黎芳;刘慧 | 申请（专利权）人： | 北京建筑大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王庆龙;张睿 |
| 地址： | 100044*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统。其中，方法包括：根据零阶涡旋光束的光强图，获取光强矩阵；根据光强矩阵获取束腰半径和光强最大处的半径；根据束腰半径和光强最大处的半径，获取拓扑荷的测量结果。本发明实施例提供的零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统，通过对零阶涡旋光束的光强图进行数值处理，测量出零阶涡旋光束的拓扑荷，能获得精度更高的测量结果，能降低测量的成本，测量更加灵活、方便。 | ||
| 搜索关键词： | 涡旋 光束 拓扑 测量方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法，其特征在于，包括：根据零阶涡旋光束的光强图，获取光强矩阵；根据所述光强矩阵获取束腰半径和光强最大处的半径；根据所述束腰半径和光强最大处的半径，获取拓扑荷的测量结果。
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