[发明专利]填充物位测量方法在审

专利信息
申请号: 201910451612.5 申请日: 2019-05-28
公开(公告)号: CN110553696A 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 罗兰·韦勒;斯特芬·瓦尔德 申请(专利权)人: VEGA格里沙贝两合公司
主分类号: G01F23/284 分类号: G01F23/284;G01S7/41;G01S13/32
代理公司: 11290 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 代理人: 瓮芳;陈桂香
地址: 德国沃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 一种使用雷达填充物位测量设备进行填充物位测量的方法,所述方法使用以下步骤:发送具有多个频率斜坡的传输信号;接收所述传输信号的每个频率斜坡的接收信号;将所述接收信号保存在存储器中;对所述接收信号进行第一频谱分析或对所述接收信号进行第二频谱分析;对所述第一频谱分析的在所述接收信号中的至少一个有效反射器的位置处的若干个输出信号执行第二频谱分析,或者对所述第二频谱分析的在所述接收信号中的至少一个有效反射器的位置处的若干个输出信号进行第一频谱分析;根据所述第一频谱分析的结果,确定有效反射器的距离;基于先前确定的信息,确定填充物位回波。
搜索关键词: 频谱分析 填充物 有效反射 传输信号 频率斜坡 输出信号 位置处 测量设备 方法使用 信号保存 存储器 回波 测量 雷达 发送
【主权项】:
1.一种使用雷达填充物位测量设备(101)进行填充物位测量的方法,所述方法使用以下步骤:/n-发送具有多个频率斜坡(501-504)的传输信号(104),/n-接收所述传输信号(104)的每个频率斜坡的接收信号,/n-将所述接收信号保存在存储器中,/n-对所述接收信号进行第一频谱分析,/n-根据至少一个接收信号的所述第一频谱分析,确定有效反射器的间隔(d),/n-对所述第一频谱分析的至少在所述接收信号中的一个有效反射器的所述位置处的若干个输出信号进行第二频谱分析,/n-由于先前确定的所述信息,确定所述填充物位回波。/n
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