[发明专利]一种适用于X射线荧光分析玻璃熔片法的样品前处理方法

摘要

本发明属于X射线荧光光谱分析技术领域，公开了一种适用于X射线荧光分析玻璃熔片法的样品前处理方法，在高温状态下将未知矿石样品中的非氧化态金属变成氧化态金属、有机质600℃的高温发生反应、硫化物1000℃的高温发生反应。本发明在现有的国标GB/T 14506.28‑2010方法基础上，样品增加了前处理阶段，可以扩大使用在矿石样品的分析，或者未知的试样样品中存在非氧化态金属；有机碳和一些硫化物的情况下，不但保护了X射线荧光分析玻璃熔片法的铂金坩埚，还扩大了国标的使用范围，使得一些手工样品可以用仪器测量，分析速度快，试样加工相对简单、分析精度高，安全环保。

主权项

1.一种适用于X射线荧光分析玻璃熔片法的样品前处理方法，其特征在于，所述适用于X射线荧光分析玻璃熔片法的样品前处理方法包括以下步骤：第一步，样品在105℃烘干2h，至与干燥器的中保存；第二步，取0.8000g样品至于内壁光滑的恒重瓷坩埚中并记录总重m₀；第三步，将装样品的瓷坩埚放入马弗炉中从室温开始升温，以20℃/min,升至600℃，保持30min，打开炉门两次，使炉内有充足的空气进入；第四步，继续升温马弗炉至1000℃，以10℃/min，到达1000℃后保持60min，等待样品充分氧化，直至样品恒重m₁，并计算样品灼烧减重量LOI；第五步，将马弗炉中的瓷坩埚取出，放置室温，然后将瓷坩埚中的样品完全的转移至X射线荧光分析玻璃熔片法的铂金坩埚中进行制样。