[发明专利]用于分析表面波纹度的方法在审
| 申请号： | 201910453883.4 | 申请日： | 2019-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN110542389A | 公开（公告）日： | 2019-12-06 |
| 发明（设计）人： | G·米斯 | 申请（专利权）人： | 科令志因伯格有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 顾玉莲<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 德国许*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 分析齿轮齿面的表面波纹度的方法，包括：测量齿轮的两个或更多个齿，其中沿着该两个或更多个齿中的每个齿上的至少一个测量路径测量齿面几何形状相对于设定点几何形状的偏差；测量齿轮的至少一个另外的齿，对于该另外的齿，沿着至少一个局部测量路径测量齿面几何形状相对于设定点几何形状的偏差，所述局部测量路径的长度小于所述测量路径的长度；和/或测量齿轮的至少一个另外的齿，对于该另外的齿，通过接触位于该另外的齿的齿面上至少一个点来测量齿面几何形状相对于设定点几何形状的偏差；将旋转角度与每个测量值相关联，并通过在旋转角度上绘制的偏差的阶次分析来确定几何捕获的阶谱，其中确定一个或多个补偿函数和/或插值函数。 | ||
| 搜索关键词： | 测量齿轮 测量路径 局部测量 测量齿 齿面几何形状 表面波纹度 补偿函数 插值函数 阶次分析 路径测量 齿轮齿 捕获 测量 绘制 关联 分析 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析齿轮齿面的表面波纹度的方法，包括以下方法步骤：/nA)测量齿轮(100)的两个或更多个齿(1、4、7、10)，其中沿着所述两个或更多个齿(1、4、7、10)中的每个齿上的至少一个测量路径(M1)测量齿面几何形状相对于设定点几何形状的偏差；/nB)测量齿轮(100)的至少一个另外的齿(9、12)，其中对于所述另外的齿(9、12)，沿着至少一个局部测量路径测量齿面几何形状相对于设定点几何形状的偏差，其中所述局部测量路径的长度小于所述测量路径的长度；和/或/n测量齿轮(100)的至少一个另外的齿(3、6)，其中对于所述另外的齿(3、6)，通过接触位于所述另外的齿(3、6)的齿面(102)上的至少一个点(P1)来测量齿面几何形状相对于设定点几何形状的偏差；/nC)将旋转角度与每个测量值相关联，并通过在旋转角度上绘制的偏差的阶次分析来确定几何捕获的阶谱，其中确定了一个或多个补偿函数和/或插值函数(110、112)。/n
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