[发明专利]基于多孔AlGaN的紫外分布布拉格反射镜及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910454743.9 申请日: 2019-05-28
公开(公告)号: CN110190511B 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 姬小利;谭晓宇;魏同波;王军喜;杨富华;李晋闽 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/125 分类号: H01S5/125;H01S5/183;H01S5/187;H01L33/10;H01L33/32;H01L31/101;H01L31/0304
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 鄢功军
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于多孔AlGaN的紫外分布布拉格反射镜及其制备方法,基于多孔AlGaN的紫外分布布拉格反射镜包括衬底、成核层、缓冲层、应力调控层,以及多周期交替堆叠的Alx(Ga1‑x)N层和多孔AlyGa1‑yN层。本发明还提供一种基于多孔AlGaN的紫外分布布拉格反射镜的制备方法,在衬底上沉积成核层、缓冲层、应力调控层,以及交替堆叠多周期的Alx(Ga1‑x)N薄膜和AlyGa1‑yN薄膜,然后进行光电化学刻蚀,通过光电化学反应的带隙选择性将AlGaN层多孔化,形成基于多孔AlGaN的紫外分布布拉格反射镜。
搜索关键词: 基于 多孔 algan 紫外 分布 布拉格 反射 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种基于多孔AlGaN的紫外分布布拉格反射镜,其特征在于,所述紫外分布布拉格反射镜顺次包括衬底、成核层、缓冲层、应力调控层,以及多周期交替堆叠的Alx(Ga1‑x)N层和多孔AlyGa1‑yN层;其中所述多孔AlyGa1‑yN层为多孔结构,0<x<1,0<y<1。
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