[发明专利]一种痕量气体的探测方法及探测装置有效
| 申请号： | 201910456370.9 | 申请日： | 2019-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN110160989B | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 胡水明;王进;孙羽 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N21/39 | 分类号： | G01N21/39;G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种痕量气体的探测方法及探测系统，其中，所述痕量气体的探测方法将待测气体充填于谐振腔中，利用谐振腔一方面增强入射到谐振腔中的探测光线的激光功率，提升待测痕量气体分子跃迁的饱和参数；另一方面增强待测痕量气体的有效吸收程，从而提高对待测痕量气体的微弱吸收的检测灵敏度，获得待测痕量气体的分子饱和吸收光谱，以实现在常温条件下，利用常规的激光器提供的探测光线即可实现对痕量气体的浓度进行探测的目的。并且利用所述痕量气体的探测方法获得的待测痕量气体的分子饱和吸收光谱和待测气体中的背景气体分子的吸收光谱有效分开，从而消除背景气体的干扰，实现对待测痕量气体的探测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 痕量 气体 探测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种痕量气体的探测方法，其特征在于，包括：提供谐振腔，并在所述谐振腔的腔体内部充填待测气体，所述待测气体中包括待测痕量气体；提供不同频率的探测光线，所述探测光线从所述谐振腔的延伸方向的一端入射到所述谐振腔内部，并从所述谐振腔的延伸方向的另一端出射，以获得携带待测痕量气体信息的探测光线；所述谐振腔的腔体在所述谐振腔的延伸方向上具有伸缩自由度，以使所述谐振腔的纵模频率与入射的探测光线的频率匹配；根据不同频率的携带待测痕量气体信息的探测光线，获取所述待测痕量气体的分子饱和吸收光谱，并根据所述痕量气体的分子饱和吸收光谱，计算所述待测气体中所述待测痕量气体的浓度。
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