[发明专利]一种FPGA电路测试方法和装置在审
| 申请号： | 201910458802.X | 申请日： | 2019-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN110308380A | 公开（公告）日： | 2019-10-08 |
| 发明（设计）人： | 蒋义冠 | 申请（专利权）人： | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 李发兵 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供的一种FPGA电路测试方法和装置，提取待测电路模型；将待测电路配置为至少一个测试电路；根据确定的故障模型，确定输入激励的序列；确定各配置的测试电路的覆盖情况。从而根据待测电路模型确定了测试电路并基于故障模型输入激励，得到故障覆盖情况，成功的实现了对FPGA电路的测试，提升了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试电路 待测电路 方法和装置 故障模型 输入激励 测试 测试效率 故障覆盖 模型确定 配置的 覆盖 配置 成功 | ||
【主权项】：
1.一种FPGA电路测试方法，包括：提取待测电路模型；将所述待测电路配置为至少一个测试电路；根据确定的fault model故障模型，确定输入激励的序列；确定各配置的测试电路的覆盖情况。
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