[发明专利]一种改进的微电子封装用低银Sn-Ag-Cu焊料及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201910459372.3 申请日: 2019-05-29
公开(公告)号: CN110102931A 公开(公告)日: 2019-08-09
发明(设计)人: 王泓瑄;覃业霞 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: B23K35/26 分类号: B23K35/26;B23K35/14
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 何淑珍;江裕强
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种改进的微电子封装用低银Sn‑Ag‑Cu焊料及其制备方法,所述焊料按质量百分数计包括以下组分:Ag:0.3~1.0%,Cu:0.5~1.0%,Nb:0.05~0.5%,Sn:97.5~99.07%。本发明焊料合金的优点是在保持低银Sn‑Ag‑Cu焊料合金良好抗跌落性能的前提下微量添加Nb元素,阻碍位错运动,改善焊料常温力学性能,大幅提高蠕变抗力;添加Zr元素,能与Nb元素协同作用,促进Nb的进一步弥散分布,同时细化合金组织,提高焊料的强度和硬度;稀土元素Yb的添加能提高液态焊料的流动性,提高润湿性能,提高钎料的抗蠕变性能。
搜索关键词: 焊料 低银 微电子封装 焊料合金 制备 常温力学性能 抗跌落性能 抗蠕变性能 合金组织 弥散分布 蠕变抗力 润湿性能 微量添加 稀土元素 液态焊料 钎料 位错 细化 改进 阻碍
【主权项】:
1.一种改进的微电子封装用低银Sn‑Ag‑Cu焊料,其特征在于,按质量百分数计包括以下组分:Ag :0.3~1.0% ,Cu :0.5~1.0%,Nb:0.05~0.5%,Sn:97.5~99.07%。
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