[发明专利]一种基于同位素技术的大气细颗粒物来源解析方法和装置在审

专利信息
申请号: 201910460170.0 申请日: 2019-05-30
公开(公告)号: CN110069897A 公开(公告)日: 2019-07-30
发明(设计)人: 彭林;王成;闫雨龙;李如梅;徐杨 申请(专利权)人: 华北电力大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;G01N15/00
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 胡蓉
地址: 102206*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供了一种基于同位素技术的大气细颗粒物来源解析方法和装置,其中,该方法包括:对采集到的目标区域的大气细颗粒物和采集到的目标区域的各污染源进行元素和元素的同位素分析,以得到大气细颗粒物中各目标元素的含量及其同位素组成和各污染源中各目标元素含量及其同位素组成;利用大气细颗粒物中各目标元素的含量及其同位素组成和各污染源中各目标元素的含量及其同位素组成得到各污染源对大气细颗粒物的贡献值,通过上述方法可以对大气细颗粒物的来源进行解析,从而得到各污染源对大气细颗粒物的贡献值,通过各污染源对大气细颗粒物的贡献值可以确定该地区各污染源对大气细颗粒物贡献程度。
搜索关键词: 大气细颗粒物 污染源 同位素组成 目标元素 方法和装置 同位素技术 来源解析 目标区域 同位素分析 采集 解析 申请
【主权项】:
1.一种基于同位素技术的大气细颗粒物来源解析方法,其特征在于,包括:对采集到的目标区域的大气细颗粒物和采集到的所述目标区域的各污染源进行元素和元素的同位素分析,以得到所述大气细颗粒物中各目标元素的含量及其同位素组成和各污染源中各目标元素的含量及其同位素组成;利用所述大气细颗粒物中各目标元素的含量及其同位素组成和各污染源中各目标元素的含量及其同位素组成得到各所述污染源对大气细颗粒物的贡献值。
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