[发明专利]一种基于光纤微电流传感器的绝缘子劣化检测装置在审
| 申请号： | 201910460346.2 | 申请日： | 2019-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN110118918A | 公开（公告）日： | 2019-08-13 |
| 发明（设计）人： | 李伟;靳鹏飞;裴蕴智 | 申请（专利权）人： | 中科伟博（苏州）智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人： | 夏平 |
| 地址： | 215615 江苏省苏州市张家港市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光纤微电流传感器的绝缘子劣化检测装置，其包括绝缘手柄、绝缘开合套环、MEMS光纤微电流传感器、放大处理模块、显示器和电源，所述绝缘开合套环由两个可相互开合的绝缘套臂组成，分别为左绝缘套臂和右绝缘套臂，两个绝缘套臂可转动连接在绝缘手柄的前端，且在两个绝缘套臂上设有四个MEMS光纤微电流传感器，所述MEMS光纤微电流传感器用于检测绝缘子串周围的磁场，并将检测的信号传输给放大处理模块，所述放大处理模块对接收到的信号放大处理后，将计算结果输送至显示器进行实时显示。本发明不受电磁干扰，以非接触式的测量方式可及时发现隐患，提高绝缘子运维效率。 | ||
| 搜索关键词： | 微电流传感器 绝缘套 绝缘子 光纤 放大处理 劣化检测装置 绝缘手柄 开合套 绝缘 显示器 信号放大处理 可转动连接 电磁干扰 非接触式 绝缘子串 实时显示 信号传输 检测 开合 运维 磁场 电源 测量 发现 | ||
【主权项】：
1.一种基于光纤微电流传感器的绝缘子劣化检测装置，其特征在于，包括绝缘手柄、绝缘开合套环、MEMS光纤微电流传感器、放大处理模块、显示器和电源，所述绝缘开合套环由两个可相互开合的绝缘套臂组成，分别为左绝缘套臂和右绝缘套臂，所述左绝缘套臂和右绝缘套臂可转动连接在所述绝缘手柄的前端，且在两个绝缘套臂上分别设有所述MEMS光纤微电流传感器，该MEMS光纤微电流传感器的信号输出端与所述放大处理模块连接，所述MEMS光纤微电流传感器用于检测绝缘子串周围的磁场，并将检测的信号传输给放大处理模块，所述放大处理模块对接收到的信号放大处理后，将计算结果输送至显示器进行实时显示。
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