[发明专利]光掩模坯料、制造光掩模的方法和光掩模在审
申请号: | 201910460886.0 | 申请日: | 2019-05-30 |
公开(公告)号: | CN110554563A | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 稻月判臣;笹本纮平 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F1/26 | 分类号: | G03F1/26;G03F1/32;G03F1/62 |
代理公司: | 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李跃龙 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明提供一种光掩模坯料、制造光掩模的方法和光掩模。具体提供一种光掩模坯料,其在基板上包括加工膜和由含铬材料制成的膜,所述由含铬材料制成的膜形成为与加工膜接触并具有第一、第二和第三层的三层结构,所述第一、第二和第三层的每个层都含铬、氧和氮,其中第一层的铬含量为40原子%以下,氧含量为50原子%以上,氮含量为10原子%以下,厚度为20nm以上,第二层的铬含量为50原子%以上,氧含量为20原子%以下,氮含量为30原子%以上,第三层的铬含量为40原子%以下,氧含量为50原子%以上,氮含量为10原子%以下。 | ||
搜索关键词: | 第三层 光掩模坯料 含铬材料 光掩模 三层结构 第一层 膜接触 膜形成 含铬 基板 加工 制造 | ||
【主权项】:
1.一种光掩模坯料,其包括:基板、由含铬材料制成的膜、以及加工膜,所述加工膜形成为与由含铬材料制成的膜的靠近基板的一侧接触,并且通过使用由含铬材料制成的膜的图案作为蚀刻掩模对所述加工膜进行加工,/n其中由含铬材料制成的膜是具有三层结构的叠层膜,所述三层结构从远离基板的一侧起包括第一层、第二层和第三层,所述第一层、第二层和第三层的每一层都含有铬、氧和氮,/n所述第一层的铬含量为40原子%以下、氧含量为50原子%以上、氮含量为10原子%以下、厚度为20nm以上,/n所述第二层的铬含量为50原子%以上、氧含量为20原子%以下、氮含量为30原子%以上,且/n所述第三层的铬含量为40原子%以下、氧含量为50原子%以上、氮含量为10原子%以下。/n
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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