[发明专利]一种磁控镀膜仪工艺参数的优化方法有效
申请号: | 201910466571.7 | 申请日: | 2019-05-31 |
公开(公告)号: | CN110262233B | 公开(公告)日: | 2022-12-16 |
发明(设计)人: | 杨平;花迎顺 | 申请(专利权)人: | 江苏大学 |
主分类号: | G05B13/04 | 分类号: | G05B13/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 212013 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种基于遗传算法和BP神经网络的磁控镀膜仪工艺参数的优化方法,包括:步骤一:选取磁控镀膜仪的工艺参数进行试验,得到薄膜的电阻率、透光度以及薄膜厚度;步骤二:以磁控镀膜仪的工艺参数作为输入,以薄膜的电阻率、透光度以及厚度作为输出,构建一个含有多个隐含层的BP神经网络模型;步骤三:利用遗传算法优化BP神经网络初始的权值和阈值,得到最优的个体的权值和阈值;步骤四:将步骤三中得到的最优个体的权值和阈值赋值给BP神经网络模型,用步骤一的样本训练BP神经网络;步骤五:再次使用遗传算法优化磁控溅射镀膜仪的工艺参数,其中,使用步骤四训练得到的神经网络的预测输出构建适应度函数;本发明能够快速精确地对磁控溅射法镀膜工艺参数优化。 | ||
搜索关键词: | 一种 镀膜 工艺 参数 优化 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于遗传算法和BP神经网络的磁控镀膜仪工艺参数的优化方法,其特征在于,包括:步骤一:选取磁控镀膜仪的工艺参数进行试验,得到薄膜的电阻率、透光度以及薄膜厚度,将获得的电阻率、透光度以及薄膜厚度数据进行归一化处理,之后从中选取训练样本和检测样本,其中,所述磁控镀膜仪的工艺参数包括溅射功率、溅射压强、衬底温度、真空度、溅射时间、氩气流量;步骤二:以所述磁控镀膜仪的工艺参数作为输入,以薄膜的电阻率、透光度以及厚度作为输出,构建一个含有多个隐含层的BP神经网络模型,隐含层的层数设置为l层,各隐含层的节点数设置为H,并给各隐含层和输出层选择合适的激励函数;步骤三:利用遗传算法优化所述BP神经网络初始的权值和阈值,得到最优的个体的权值和阈值;步骤四:将步骤三中得到的最优个体的权值和阈值赋值给所述BP神经网络模型,用步骤一的样本训练所述BP神经网络,训练过程中使用误差逆传播算法对各隐含层的权值和阈值进行更新,直到代价函数J小于设定精度或者达到最大迭代次数训练结束;步骤五:再次使用遗传算法优化磁控溅射镀膜仪的工艺参数,其中,使用步骤四训练得到的神经网络的预测输出构建适应度函数F2,适应度函数F2取:
其中F2为适应度值,ρ2为步骤四得到的神经网络预测的薄膜电阻率,η2为步骤四得到的神经网络预测的薄膜透光率,δ2步骤四得到的神经网络预测的薄膜厚度,ρ0为薄膜电阻率目标值,η0为透光率目标值,δ0为薄膜厚度目标值。
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