[发明专利]一种真三轴试验的多测点试样的密封结构

摘要

本发明公开了一种真三轴试验的多测点试样的密封结构，包括用于包裹试样的密封胶套，密封胶套在密封座所在的一端设有注入井密封组件和压力探头密封组件，在所述密封胶套的前后左右侧面上设有电极触点密封组件。其能够满足试样测点的密封要求，且能够重复使用。

主权项

1.一种真三轴试验的多测点试样的密封结构，包括用于包裹试样（1）的密封胶套（2），其特征在于：所述密封胶套（2）上端开口，通过锥形密封堵头（3）密封，锥形密封面上设有多个密封凸起，密封胶套（2）与开口相对的一端外侧设有密封座（12）；密封胶套（2）在密封座（12）所在的一端装有注入井密封组件（5）和压力探头密封组件（6），在所述密封胶套（2）的前后左右侧面上装有电极触点密封组件（4）；所述注入井密封组件（5）包括第一密封接头（52），第一密封接头（52）轴向中部设有与注入井管（51）间隙配合的通孔，第一密封接头（52）一端可拆卸地装配于密封胶套（2）上，另一端设有第一沉台（53），所述第一沉台（53）内设有第一密封环（54），内侧壁上设有与第一压紧螺母（55）配合的螺纹，第一压紧螺母（55）沿第一沉台（53）内侧壁旋入挤压第一密封环（54），第一密封环（54）受挤压力变形与注入井管（51）紧贴，实现密封；所述压力探头密封组件（6）包括第二密封接头（62），第二密封接头（62）轴向中部设有与压力探头（61）间隙配合的通孔，第二密封接头（62）一端可拆卸地装配于密封胶套（2）上，另一端设有第二沉台（63），所述第二沉台（63）内设有第二密封环（64），内侧壁上设有与第二压紧螺母（65）配合的螺纹，第二压紧螺母（65）沿第二沉台（63）内侧壁旋入挤压第二密封环（64），第二密封环（64）受挤压力变形与压力探头（61）紧贴，实现密封；所述电极触点密封组件（4）包括第三密封接头（41），第三密封接头（41）轴向中部设有与触点插针（44）对应配合的螺纹孔（43）。