[发明专利]一种高精度光纤余长测量装置在审
| 申请号： | 201910468161.6 | 申请日： | 2019-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN110081795A | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 田庚;金榕;孙福林;肖媛;高长华;丰茂磊;梁琦 | 申请（专利权）人： | 江苏藤仓亨通光电有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02;G01N1/28 |
| 代理公司： | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人： | 查杰 |
| 地址： | 215200 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及光纤余长测量技术领域，涉及一种高精度光纤余长测量装置。通过集成切料组件和检测组件，可确保一次样品裁剪即满足标准样品长度要求，减少了光单元裁切和测量分别操作的时间，提高测量精度，同时为减少光单元及其内部光纤不同时测量的误差，采用切料台上的切料槽加切割部件来实现光单元(光纤)样品裁剪和测量一步完成，并满足样品裁切标准长度要求，同时使用测量卡尺测量光纤超出光单元样品的长度，这样大大降低了分别测量光单元和光纤的测量误差，缩短检测时间，提高余长测量的准确性和精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 光单元 测量 光纤余长 光纤 测量装置 长度要求 裁切 切料 裁剪 测量技术领域 标准样品 测量光纤 检测组件 切割部件 使用测量 一步完成 余长测量 测量光 切料槽 卡尺 检测 | ||
【主权项】：
1.一种高精度光纤余长测量装置，其特征在于，包括机架，所述机架上设置有用于裁剪光纤的切料组件以及用于检测所述裁剪光纤的检测组件；所述切料组件包括切料台以及两切割部件，所述切料台上设置有多个定位部件，所述切料台上设置有用于容置光单元的切料槽，两切割部件分别设置在所述切料槽两端；所述检测组件包括检测架、所述检测架上设置有检测槽，所述检测槽一侧设置有测量卡尺，另一侧设有挡块。
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