[发明专利]一种基于白光干涉的低频漏磁检测探伤系统

摘要

本发明公开了一种基于白光干涉的低频漏磁检测探伤系统，其特征在于：由宽带光源，光隔离器，光纤耦合器，FC光纤连接器，新型磁芯，光电探测器，放大器，示波器，铜漆包线、穿过磁芯的光纤、磁流体组成；穿过磁芯的光纤上涂敷有磁流体，宽带光源发出的光通过光纤传输到光隔离器进入光纤耦合器，后被分成顺时针和逆时针方向的两列光波分别经FC光纤连接器传播，通过穿过新型磁芯的光纤，两列光波在光电探测器表面产生干涉，干涉信号被光电探测器转换为电信号再通过放大器后将波形显示到示波器。本发明具有操作简单、方便携带、灵敏度高的特点，可以应用测量铁磁性材料的各种缺陷，有效地控制检测的灵敏度和成本。

主权项

1.一种基于白光干涉的低频漏磁检测探伤系统，由宽带光源（1），光隔离器（2），光纤耦合器（3），FC光纤连接器（4），新型磁芯（5），光电探测器（6），放大器（7），示波器（8），铜漆包线（9）、穿过磁芯的光纤（10）、磁流体（11）组成；其特征在于：穿过磁芯的光纤（10）上涂敷有磁流体（11），宽带光源（1）发出的光通过光纤传输到光隔离器（2）进入光纤耦合器（3），后被分成顺时针和逆时针方向的两列光波分别经FC光纤连接器（4）传播，通过穿过新型磁芯（5）的光纤，两列光波在光电探测器（6）表面产生干涉，干涉信号被光电探测器（6）转换为电信号再通过放大器（7）后将波形显示到示波器（8）。如果铁磁性材料有缺陷，干涉条纹发生变化，则光电探测器（6）的干涉信号发生变化，相应的示波器（8）上的信号也将发生变化；工件缺陷部分磁导率变小，致使磁通量不能均匀分布，剩余的磁场则从工件外通过成为漏磁场，涂敷有磁流体（8）的光纤周围磁场受漏磁场影响发生变化，磁流体（8）的排布发生变化，从而导致穿过新型磁芯的光纤（10）表面的有效折射率发生变化，导致干涉条纹发生变化，通过示波器（8）读数可以感知变化，进而检测铁磁材料表面的缺陷。