[发明专利]一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统在审
| 申请号： | 201910474214.5 | 申请日： | 2019-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN110068609A | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | 苏越洋;沈常宇;李光海 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G01N27/83 | 分类号： | G01N27/83 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统，由霍尔元件阵列、U型磁芯、激励线圈、信号处理器、电源模块、单片机、功率放大器激发端阻抗匹配、发射探头、接收探头、上位机组成；单片机输出低频交变信号给激励线圈，磁化U型磁芯，使其与待测构件形成一个局部的漏磁环境，让被检测导磁构件在缺陷处形成漏磁场，并被置于该区域的霍尔元件阵列所感应，经信号处理后，送入上位机处理，初步给出损伤位置；再用超声探测对该部位进行精确测量，给出具体损伤情况；该发明粗检结合精检，检验更灵活，且精确度更高，是对传统的基于漏磁检测原理的一次革新。 | ||
| 搜索关键词： | 漏磁 霍尔元件阵列 承压设备 激励线圈 内部探伤 单片机 上位机 超声 磁化 功率放大器 信号处理器 超声探测 待测构件 导磁构件 电源模块 发射探头 交变信号 接收探头 漏磁检测 输出低频 损伤位置 信号处理 阻抗匹配 传统的 漏磁场 缺陷处 送入 损伤 测量 激发 检测 灵活 检验 | ||
【主权项】：
1.一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统，由霍尔元件阵列(1)、U型磁芯(2)、激励线圈(3)、信号处理器(4)、电源模块(5)、单片机(6)、功率放大器(7)、激发端阻抗匹配(8)、发射探头(9)、接收探头(10)、上位机组成(11)；霍尔元件阵列(1)采用2*4布置差动处理的方法，两列霍尔元件背对背排列，电源模块(5)给整个系统供电，单片机(6)输出低频交变信号给激励线圈(3)，磁化U型磁芯(2)，使其与待测构件形成磁回路，形成一个局部的磁真空泄露环境，让被检测导磁构件体内磁通在缺陷处泄漏到所创造的磁真空区域，形成漏磁场并被置于该区域的霍尔元件阵列(1)所感应，产生检测电信号经信号处理器(4)处理后通过数字式通信接口，送入上位机(11)通过MATLAB处理，形成相位图和幅值图，初步反应出损伤；单片机(6)产生1MHz的高频交变信号，在通过功率放大器(7)进行放大，通过激发端阻抗匹配(8)给发射探头(9)；接收探头(10)接受到待测构件的电磁超声波，产生电信号经信号处理器(4)处理后通过数字式通信接口，经上位机(11)处理后，给出损伤的具体情况。
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