[发明专利]用对照计数校准纳米孔捕获速率在审

专利信息
申请号: 201910474304.4 申请日: 2019-05-31
公开(公告)号: CN111855787A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 凯尔·布里格斯;马丁·查伦;文森特·塔巴德-科斯萨 申请(专利权)人: 渥太华大学
主分类号: G01N27/447 分类号: G01N27/447;B82Y15/00
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 郭放;许伟群
地址: 加拿大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开提供了利用固态纳米孔测定分子浓度的方法。所述方法包括测量电流信号并使用所述信号来识别第一电性特征和第二电性特征。第一组用于确定具有未知浓度的目标的第一速率,第二组用于确定具有已知浓度的对照的第二速率。所述第一速率和所述第二速率各自是孔性质因子的函数,所述因子表示所述固态纳米孔的物理性质和操作条件。所述第一速率还是第一性质因子的函数,所述第一性质因子表示所述目标的物理性质和所述未知浓度。所述第二速率还是第二性质因子的函数,所述第二性质因子表示所述对照的物理性质和所述已知浓度。所述第一速率与所述第二速率的比率用于确定所述未知浓度。
搜索关键词: 对照 计数 校准 纳米 捕获 速率
【主权项】:
暂无信息
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