[发明专利]单晶硅基类倒金字塔绒面结构的扩散方法有效

专利信息
申请号: 201910475055.0 申请日: 2019-06-02
公开(公告)号: CN110112260B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 霍亭亭;赵保星;魏青竹;倪志春;连维飞;苗凤秀;胡党平 申请(专利权)人: 苏州腾晖光伏技术有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L21/225
代理公司: 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 代理人: 黄丽莉
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种单晶硅基类倒金字塔绒面结构的扩散方法,包括:采用P型单晶硅片做单晶硅基底,在所述单晶硅基底正表面进行各向异性刻蚀,得到分布均匀的类倒金字塔结构;将具有类倒金字塔结构的硅片放入扩散炉中进行分步式扩散;所述分步式扩散包括温度依次升高条件下的磷源沉积和至少两个梯度的降温程序。本发明三步有序沉积的设计有利于磷源较为充分的均匀的沉积到硅片表面;降温分成两步的缓冲式降温方式,减少了硅片表面过多的磷源堆积而形成的“死层”,应用此方法得到的扩散方阻为达到理想方阻值,且均匀性较好。
搜索关键词: 单晶硅 基类倒 金字塔 结构 扩散 方法
【主权项】:
1.一种单晶硅基类倒金字塔绒面结构的扩散方法,其特征在于,所述方法包括:S1、采用P型单晶硅片做单晶硅基底,在所述单晶硅基底正表面进行各向异性刻蚀,得到分布均匀的类倒金字塔结构;S2、将具有类倒金字塔结构的硅片放入扩散炉中进行分步式扩散;所述分步式扩散包括温度依次升高条件下的磷源沉积和至少两个梯度的降温程序。
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