[发明专利]单晶硅基类倒金字塔绒面结构的扩散方法有效
申请号: | 201910475055.0 | 申请日: | 2019-06-02 |
公开(公告)号: | CN110112260B | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 霍亭亭;赵保星;魏青竹;倪志春;连维飞;苗凤秀;胡党平 | 申请(专利权)人: | 苏州腾晖光伏技术有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/225 |
代理公司: | 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 | 代理人: | 黄丽莉 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种单晶硅基类倒金字塔绒面结构的扩散方法,包括:采用P型单晶硅片做单晶硅基底,在所述单晶硅基底正表面进行各向异性刻蚀,得到分布均匀的类倒金字塔结构;将具有类倒金字塔结构的硅片放入扩散炉中进行分步式扩散;所述分步式扩散包括温度依次升高条件下的磷源沉积和至少两个梯度的降温程序。本发明三步有序沉积的设计有利于磷源较为充分的均匀的沉积到硅片表面;降温分成两步的缓冲式降温方式,减少了硅片表面过多的磷源堆积而形成的“死层”,应用此方法得到的扩散方阻为达到理想方阻值,且均匀性较好。 | ||
搜索关键词: | 单晶硅 基类倒 金字塔 结构 扩散 方法 | ||
【主权项】:
1.一种单晶硅基类倒金字塔绒面结构的扩散方法,其特征在于,所述方法包括:S1、采用P型单晶硅片做单晶硅基底,在所述单晶硅基底正表面进行各向异性刻蚀,得到分布均匀的类倒金字塔结构;S2、将具有类倒金字塔结构的硅片放入扩散炉中进行分步式扩散;所述分步式扩散包括温度依次升高条件下的磷源沉积和至少两个梯度的降温程序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的