[发明专利]一种IGBT芯片的非接触式工作参数测量方法有效
| 申请号： | 201910481839.4 | 申请日： | 2019-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN110133472B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 顾妙松;范迦羽;崔翔;唐新灵;彭程;李学宝;李金元;赵志斌 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学;全球能源互联网研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/265 | 分类号： | G01R31/265;G01R31/27 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 程华 |
| 地址： | 102206 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种IGBT芯片的非接触式工作参数测量方法。所述测量方法首先利用双脉冲测试电路的仿真模型确定表示IGBT芯片的工作参数与IGBT芯片工作过程中产生的PETT振荡信号关系的拟合函数，然后利用所述双脉冲测试电路，获取不同的工作参数的实际值对应的PETT振荡信号参数的实际值，得到测试数据，根据测试数据确定拟合函数中的待定系数，得到拟合函数模型；然后采用天线获取IGBT芯片实际工作过程中产生的PETT振荡信号，并根据所述函数模型和实际工作过程中产生的PETT振荡信号，获取IGBT芯片实际工作过程的工作参数，实现了IGBT芯片的非接触式测量，进而实现了高压电力系统换流阀和断路器等中的IGBT芯片的工作参数的实时在线监测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 igbt 芯片 接触 工作 参数 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种IGBT芯片的非接触式工作参数测量方法，其特征在于，所述测量方法包括如下步骤：搭建IGBT芯片的双脉冲测试电路；建立双脉冲测试电路的仿真模型；利用所述仿真模型，获取不同的工作参数的仿真值对应的PETT振荡信号参数的仿真值，得到仿真数据；工作参数包括工作温度、电压和电流中的一种或几种；PETT振荡信号参数包括PETT振荡信号的幅频特征，相频特征、峰峰值，振荡持续时间，振荡频率和时频特征中的一种或几种；根据仿真数据，采用函数拟合的方式，确定表示工作参数与PETT振荡信号参数之间关系的拟合函数；利用所述双脉冲测试电路，获取不同的工作参数的实际值对应的PETT振荡信号参数的实际值，得到测试数据；根据所述测试数据，求解所述拟合函数中的待定系数，得到表示工作参数与PETT振荡信号参数之间关系的拟合函数模型；采集所述IGBT芯片工作过程中产生的PETT振荡信号；根据所述拟合函数模型和所述IGBT芯片工作过程中产生的PETT振荡信号，确定所述IGBT芯片的工作参数的测量值。
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