[发明专利]一种折反式激光粒度仪在审
| 申请号： | 201910483659.X | 申请日： | 2019-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN110118707A | 公开（公告）日： | 2019-08-13 |
| 发明（设计）人： | 魏永杰;葛婷婷;张中岐 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300401 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种折反式激光粒度仪，用于颗粒粒度分布测量。由激光器1发出的光经过扩束准直后形成平行光，照射在颗粒样品2区域，颗粒对光发生散射。颗粒的散射光经过透镜3后到达半透半反镜4，半透半反镜4与光路的光轴成45°摆放。在半透半反镜4后面且位于透镜3的焦平面上放置光电探测器阵列5，用于接收颗粒的散射光；在与光轴垂直的方向上设置透镜6，在透镜3和透镜6的组合焦平面上放置光电探测器阵列7，经半透半反镜4反射和透镜6透射后的颗粒散射信号由光电探测器阵列7接收。由光电探测器阵列5、7接收的颗粒散射信号被采集后，经计算机处理得到颗粒散射的角分布信号，从而得到颗粒粒度分布。 | ||
| 搜索关键词： | 透镜 光电探测器阵列 半透半反镜 激光粒度仪 颗粒粒度 散射信号 焦平面 散射光 散射 反式 计算机处理 分布测量 光轴垂直 颗粒样品 激光器 角分布 平行光 透射 光路 光轴 扩束 反射 照射 摆放 采集 | ||
【主权项】：
1.一种折反式激光粒度仪，其特征在涉及的硬件包括激光器1、颗粒样品2、透镜3、半透半反镜4、光电探测器阵列5、透镜6、光电探测器阵列7。具体测量过程如下：由激光器1发出的光经过扩束准直后形成平行光，照射在颗粒样品2，颗粒对光发生散射。散射光经过透镜3后分成两种，其中一路经半透半反镜4透射，到达光电探测器阵列5，形成散射角分布；另一路由半透半反镜4反射后经过透镜6，在光电探测器阵列7上形成角分布。将光电探测器阵列5和光电探测器阵列7的散射角分布信号经信号采集和计算机处理后计算得到颗粒粒度分布。
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