[发明专利]宽温域二维伸展流变仪、高分子薄膜性能检测装置及方法

摘要

本申请提供一种宽温域二维伸展流变仪、高分子薄膜性能检测装置及方法，所述宽温域二维伸展流变仪通过气体进行吹膜，实现对高分子薄膜的二维均匀拉伸，且能够控制变温速率降到所需低温，或者升到所需高温，模拟高低温苛刻环境下高分子薄膜结构演化，探索高分子材料在宽温域下的使用性能。并且，设置有入光窗口和出光窗口，能够与同步辐射X射线散射线站联用，实现原位研究高分子薄膜拉伸过程中结构演化行为与高低温苛刻条件下使用性能的关系。

主权项

1.一种宽温域二维伸展流变仪，其特征在于，应用于高分子薄膜性能检测，所述二维伸展流变仪包括：气体腔主体、升降温底座、气体压力表、测温仪、出光法兰、气体质量流量控制器、外罩和冷源、热源；所述气体腔主体的相对两侧分别开设有入光窗口和出光窗口；所述出光法兰固定在所述气体腔主体上，并覆盖所述出光窗口，用于将所述高分子薄膜固定在所述出光窗口上，所述出光法兰的中心与所述出光窗口的中心对应设置；所述气体腔主体嵌在所述升降温底座上，所述冷源和所述热源与所述升降温底座相连，为所述气体腔主体提供低温环境和高温环境；所述气体压力表和所述测温仪设置在所述气体腔主体上，用于测试所述气体腔主体内的气体压力和气体温度；所述外罩设置在出光法兰背离所述气体腔主体的一侧；所述气体质量流量控制器用于控制进入所述气体腔主体内的气体流量和流速。