[发明专利]一种基于单通道时间交织采样的SAR ADC及采样方法有效
| 申请号： | 201910485016.9 | 申请日： | 2019-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN110138387B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 徐代果;蒋和全;李儒章;王健安;陈光炳;王育新;付东兵;李梁;王妍 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
| 主分类号： | H03M1/46 | 分类号： | H03M1/46;H03M1/12 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 尹丽云 |
| 地址： | 400060 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于单通道时间交织采样的SAR ADC及采样方法，至少包括：电容阵列，包括权重电容和补偿电容，第一开关阵列，第二开关阵列，通道开关组，以及采样开关；处于采样状态时：所述权重电容的下极板通过第一开关阵列接入输入电压，所述电容阵列的上极板通过采样开关和通道开关组接共模电压；处于逐次逼近状态时：所述权重电容的下极板通过第二开关阵列接基准电压，本发明通过采用统一的采样开关对输入信号进行采样，解决了传统技术中每个时间交织通道采样信号不同所导致的采样时刻不匹配(time skew mismatch)问题，提高了采样精度，明显降低了校正电路的复杂度，从而提高了ADC的采样速度，和传统技术相比，具有更好的高频性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 通道 时间 交织 采样 sar adc 方法 | ||
【主权项】：
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