[发明专利]电子产品的元器件加速老化检验方法

摘要

本发明涉及一种电子产品的元器件加速老化检验方法，包括以下几个步骤：准备待测元器件、加水全浸没、置放于高温环境、风干晾干、第一次检测和第二次检测，在第一次检测中：目测风干晾干后的待测元器件表面是否出现损伤；有损伤待测元器件，则被认为检验不合格，该种待测元器件检验终止；无损伤待测元器件，则继续进行后续检验步骤；在第二次检测中，将第一次检测合格的待测元器件，进行焊接组装形成电表；对电表进行电表参数性能检验，判断是否符合标准；其将待测元器件依次加水全浸没、置放高温环境和风干晾干，筛选出无损伤待测元器件后焊接组装进行电表参数性能检验，检验成本较低，提高检测便利性，提高检测效率，有效杜绝电子产品的缺陷。

主权项

1.一种电子产品的元器件加速老化检验方法，其特征在于：包括有以下几个步骤：（1）、准备待测元器件：准备电表需要安装的电子元器件；（2）、加水全浸没:将待测元器件放入一容器内加水全浸没；（3）、置放于高温环境：将容器及放入容器内的待测元器件一同放入高温箱内；（4）、风干晾干：将容器及放入容器内的待测元器件从高温箱内取出，并将待测元器件从容器中取出后进行风干晾干；（5）、第一次检测：目测风干晾干后的待测元器件表面是否出现损伤；有损伤的待测元器件，则被认为检验不合格，该种待测元器件检验终止；无损伤的待测元器件，则继续进行后续检验步骤；（6）、第二次检测：将步骤（5）中经第一次检测合格的待测元器件，进行焊接组装，形成电表；对电表进行电表参数性能检验，判断其是否符合标准；若符合标准，则认为待测元器件合格，若不符合标准，则认为待测元器件不合格。