[发明专利]多晶硅薄膜的制造方法、多晶硅薄膜以及声学传感器在审
申请号: | 201910487384.7 | 申请日: | 2019-06-05 |
公开(公告)号: | CN110284117A | 公开(公告)日: | 2019-09-27 |
发明(设计)人: | 吴健兴;钟晓辉;吴伟昌;黎家健 | 申请(专利权)人: | 瑞声科技(新加坡)有限公司 |
主分类号: | C23C16/24 | 分类号: | C23C16/24;C23C16/56;C23C16/44;C30B28/14;C30B29/06;C30B31/08;C30B33/02 |
代理公司: | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 齐则琳;张雷 |
地址: | 新加坡卡文迪*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | 本发明提供一种多晶硅薄膜的制造方法、多晶硅薄膜以及声学传感器,其中,多晶硅薄膜的制造方法包括:提供基材,基材包括基片和与基片层叠设置的多晶硅基膜;在多晶硅基膜中非原位掺杂硼元素、磷元素和砷元素中的一种制得多晶硅薄膜半成品;对多晶硅薄膜半成品进行热激活后退火制得多晶硅薄膜。本发明提供的多晶硅薄膜的制造方法通过在多晶硅基膜中非原位掺杂硼元素、磷元素和砷元素中的一种,并对多晶硅薄膜半成品进行热激活,制得的多晶硅薄膜的晶粒的生长和均匀性好,可以有效降低多晶硅薄膜表面的粗糙度,同时由该方法制得的多晶硅薄膜具有较优的机械强度,适用于机械强度要求较高的场合,且吹气实验的成活率较高。 | ||
搜索关键词: | 多晶硅薄膜 多晶硅 基膜 半成品 声学传感器 原位掺杂 磷元素 硼元素 热激活 砷元素 基材 制造 多晶硅薄膜表面 机械强度要求 层叠设置 均匀性好 晶粒 粗糙度 后退火 成活率 吹气 生长 | ||
【主权项】:
1.一种多晶硅薄膜的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:提供基材,所述基材包括基片和与所述基片层叠设置的多晶硅基膜;在所述多晶硅基膜中非原位掺杂硼元素、磷元素和砷元素中的一种制得多晶硅薄膜半成品;对所述多晶硅薄膜半成品进行热激活后冷却制得所述多晶硅薄膜。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
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