[发明专利]多晶硅薄膜的制造方法、多晶硅薄膜以及声学传感器在审

专利信息
申请号: 201910487384.7 申请日: 2019-06-05
公开(公告)号: CN110284117A 公开(公告)日: 2019-09-27
发明(设计)人: 吴健兴;钟晓辉;吴伟昌;黎家健 申请(专利权)人: 瑞声科技(新加坡)有限公司
主分类号: C23C16/24 分类号: C23C16/24;C23C16/56;C23C16/44;C30B28/14;C30B29/06;C30B31/08;C30B33/02
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人: 齐则琳;张雷
地址: 新加坡卡文迪*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要: 发明提供一种多晶硅薄膜的制造方法、多晶硅薄膜以及声学传感器,其中,多晶硅薄膜的制造方法包括:提供基材,基材包括基片和与基片层叠设置的多晶硅基膜;在多晶硅基膜中非原位掺杂硼元素、磷元素和砷元素中的一种制得多晶硅薄膜半成品;对多晶硅薄膜半成品进行热激活后退火制得多晶硅薄膜。本发明提供的多晶硅薄膜的制造方法通过在多晶硅基膜中非原位掺杂硼元素、磷元素和砷元素中的一种,并对多晶硅薄膜半成品进行热激活,制得的多晶硅薄膜的晶粒的生长和均匀性好,可以有效降低多晶硅薄膜表面的粗糙度,同时由该方法制得的多晶硅薄膜具有较优的机械强度,适用于机械强度要求较高的场合,且吹气实验的成活率较高。
搜索关键词: 多晶硅薄膜 多晶硅 基膜 半成品 声学传感器 原位掺杂 磷元素 硼元素 热激活 砷元素 基材 制造 多晶硅薄膜表面 机械强度要求 层叠设置 均匀性好 晶粒 粗糙度 后退火 成活率 吹气 生长
【主权项】:
1.一种多晶硅薄膜的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:提供基材,所述基材包括基片和与所述基片层叠设置的多晶硅基膜;在所述多晶硅基膜中非原位掺杂硼元素、磷元素和砷元素中的一种制得多晶硅薄膜半成品;对所述多晶硅薄膜半成品进行热激活后冷却制得所述多晶硅薄膜。
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