[发明专利]薄膜晶体管及其制作方法、电子装置有效

专利信息
申请号: 201910488469.7 申请日: 2019-06-05
公开(公告)号: CN110137356B 公开(公告)日: 2021-12-24
发明(设计)人: 黄奇;梁学磊;孟虎 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京大学
主分类号: H01L51/05 分类号: H01L51/05;H01L51/30;H01L51/40;B82Y10/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种薄膜晶体管及其制作方法、电子装置,该薄膜晶体管包括衬底基板、以及设置于所述衬底基板上的栅极、栅极绝缘层、有源层、第一极和第二极,所述有源层的材料是一维半导体纳米材料,所述有源层包括第一极区、第二极区、第一沟道区和第二沟道区;所述第一极区和所述第二极区分别与所述第一极和所述第二极接触,所述第一沟道区分别与所述第一极区和所述第二沟道区直接连接,所述第二沟道区位于所述第一沟道区与所述第二极区之间;所述第二沟道区为第一掺杂区,所述第二沟道区与所述第一沟道区对应的能级不同。该薄膜晶体管可以有效降低关态漏电流并提高开态电流。
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制作方法 电子 装置
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管,包括衬底基板、以及设置于所述衬底基板上的栅极、栅极绝缘层、有源层、第一极和第二极,其中,所述有源层的材料是一维半导体纳米材料,所述有源层包括第一极区、第二极区、第一沟道区和第二沟道区;所述第一极区和所述第二极区分别与所述第一极和所述第二极接触,所述第一沟道区分别与所述第一极区和所述第二沟道区直接连接,所述第二沟道区位于所述第一沟道区与所述第二极区之间;所述第二沟道区为第一掺杂区,所述第二沟道区与所述第一沟道区对应的能级不同。
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