[发明专利]一种氯化钴中杂质的快速检测方法在审
申请号: | 201910491668.3 | 申请日: | 2019-06-06 |
公开(公告)号: | CN112051257A | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | 田桂舫 | 申请(专利权)人: | 天津市茂联科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/73 | 分类号: | G01N21/73 |
代理公司: | 天津英扬昊睿专利代理事务所(普通合伙) 12227 | 代理人: | 石卓琼 |
地址: | 300000 天津市滨海*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明提供一种过程简便快捷,适合批量检测的且能准确检测出氯化钴中杂质含量的检测方法。摒弃了行标法的标准加入法步骤繁琐、分析速度慢的缺点,本方法通过用自己的产品做基体,结合标准加入法和标准曲线法的联合使用进行了测定。本方法利用现有的现有产品进行基体匹配,匹配程度更高,样品用量小,成本也比较低。本方法采用标准加入法和标准曲线法相结合的方法有效的屏蔽了标准中基体的杂质空白。本方法步骤简单,耗时较短,适合批量检测。本发明能准确检测出氯化钴中杂质含量主要是在于用现有的产品做基体,结合标准加入法和标准曲线法的联合使用进行了创新,摒弃了行业标准的步骤繁琐、分析速度慢、用样量大的缺点。 | ||
搜索关键词: | 一种 氯化 杂质 快速 检测 方法 | ||
【主权项】:
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