[发明专利]一种自适应显微系统中的导引星选择优化方法在审
| 申请号： | 201910491846.2 | 申请日： | 2019-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN110378955A | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 龚薇;斯科;吴晨雪 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G06T7/70 | 分类号： | G06T7/70;G02B21/00 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 林超 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自适应显微系统中的导引星选择优化方法。利用宽场显微或者扫描显微成像方法对散射介质内部的发光物体进行预成像，并测试单个导引星的像差校正有效范围，然后根据预成像图像中发光点的分布，使用特殊设计的方法进行遍历搜寻，寻找最佳导引星的数量及其分布。本发明实现了用最少的导引星数目实现最优的像差校正覆盖范围，可较快重建散射介质中大视场范围的清晰成像结果。 | ||
| 搜索关键词： | 导引 散射介质 显微系统 像差校正 选择优化 自适应 扫描显微成像 成像图像 发光物体 清晰成像 有效范围 大视场 发光点 遍历 宽场 显微 成像 搜寻 测试 重建 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种自适应显微系统中的导引星选择优化方法，其特征在于：利用宽场显微或者扫描显微成像方法对散射介质内部的发光物体进行预成像获得待选导引星，并测试单个待选导引星的像差校正有效范围，然后根据预成像图像中发光点的分布使用特殊设计的方法进行遍历搜寻，获得最佳导引星的数量及其分布。
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